[实用新型]便携式测量硅材料电阻率的四针探头

说明书

技术领域

本实用新型涉及测量硅材料电阻率的技术领域，特别是涉及一种便携式测量硅材料电阻率的四针探头。

背景技术

硅料包括 P型硅料、N 型硅料以及电阻率低的重掺硅料，用作多晶硅铸锭或是单晶拉制的原料时，必须严格测试这些硅料的导电类型和电阻率。目前，关于检测半导体硅材料电阻率及导电类型的测试设备、测量端头，已有相关的文献报道，如公开号为 CN101852827A的中国专利公开了一种硅材料电阻率语音测试笔，该实用新型是由探头、电子电路部份及语音发声播放部分组成；电子电路部分由电源及升压电路部分、恒流源及探头电路部分、运算放大电路及语音发声播放部分所构成；本实用新型由于采用测量/校厚(转换开关)，所以测试时能根据硅材料的具体厚薄大小情况进行调试设定，采用集成运算放大电路芯片MAX4166具有低电压关闭模式，干电池供电，安全系数高，测得电阻率值可实时语音播报，且具制造简单，造价低廉等优点；另有公开号为CN201311457的中国专利硅材料电阻率检测装置，该实用新型硅材料电阻率检测装置包括电压表，电流表，电压表连接有航空插座，航空插座还与电流表相连接，电流表连接放大器的集电极，放大器的发射极连接有固定电阻和发光二极管，放大器的基极与滑动变阻器相连接，滑动变阻器还连接有供电电源，放大器采用三级管放大器9013，供电电源为45V恒流源。目前测量硅材料PN型的技术设备和探测仪器存在的不足之处在于：

（1）市场上普遍采用的测量硅材料电阻率现有设备属于台式设备，普遍采用台式设备，不易携带，探头维护、使用不便，工作效率低，功耗较大，并且存在安全问题；工人在测量时，必须点一下硅材料然后再抬头看主机显示，很不方便，且影响测量精度。（2）已公开专利中的硅材料电阻率测量端头及其装置、测试笔探头不同时具备测试电阻率和PN型功能，也不具备PN型和重掺功能辨别，同时探针头功能单一，用时不方便；(3)目前大多产品和测量端头精度大多达到0.1%~1%，精度不高，因此有必要提出一种便硅材料电阻率的四针探头解决上述问题。

发明内容

本实用新型的目的就是把功能单一、精度不高、体积过大且不易携带的测量硅材料电阻率及PN型测量端头集成为手持式的便携式探针，让使用者更高效的测量硅材料电阻率及PN型，同时操作更安全，更低耗。

为克服上述现有技术设备的不足，本实用新型提供了一种便携式测量硅材料电阻率的四针探头，解决其技术问题的技术方案为：所述便携式测量硅材料电阻率的四针探头，包括笔型壳体、四探针、探针导线、集成电路板、LED灯、语音孔、固线器、导线组、数码管，其特征在于所述笔型壳体包括探针座筒、十字凸缘筒、握竿筒、信号筒、线帽筒，所述握竿筒一端螺纹连接设置信号筒，所述信号筒另一端螺纹连接设置线帽筒，所述线帽筒另一端螺纹连接设置固线器；所述握竿筒另一端内部侧壁上设置十字凹槽，十字凹槽上设置十字凸缘筒，所述十字凸缘筒另一侧螺纹连接设置探针座筒，所述探针座筒与握竿筒螺纹连接，所述探针座筒另一端的圆台型侧面上设置四探针；所述信号筒一侧面中部设置矩形平面，矩形平面上并排设置数码管和红蓝绿三个LED灯，靠近线帽筒和矩形平面的信号筒一端圆柱面侧壁上设置语音孔，所述信号筒内部设置集成电路板；所述集成电路板与四探针、语音孔、LED灯、数码管均电连接，所述集成电路板通过导线组贯穿固线器后与外部电源和信号控制电路电连接。

本实用新型所述的便携式测量硅材料电阻率的四针探头，其特征在于所述集成电路板包括电源模块、两个八位数码管、两个硅结构CMOS器件、语音电路模块、LED电路模块、9位端子排，所述两个硅结构CMOS器件包括8位移位寄存器和8位存储器，均与两个八位数码管电连接，所述八位数码管通过连接分压电阻连接电源模块+5V电压端子得到所需电压；所述两个硅结构CMOS器件相关引脚电连接后，连接电源模块+5V电压端子得到所需电压，同时与9位端子排第一、二、三引脚电连接；所述9位端子排第四、五、六、七引脚均同时连接LED电路模块、语音电路模块和四探针的四个探针端子；9位端子排和语音电路模块与电源模块+5V电压端子电连接。

本实用新型所述的便携式测量硅材料电阻率的四针探头，其特征在于所述语音电路模块包括三极管Q1、喇叭LS1、电阻R5、电阻R6，所述三极管Q1发射极接地，集电极连接喇叭LS1负极；喇叭LS1负极串联电阻R5后，连接喇叭LS1正极，再连接+5V电源；三极管Q1基极串联电阻R6后，连接9位端子排第七引脚；