[实用新型]一种小试样免镶嵌磨金相装置

说明书

技术领域

一种用于小试样免镶嵌磨金相的实验装置，涉及金相试样镶嵌技术领域。

背景技术

在金属材料科学领域，对材料许多性能的测试都需要观测材料的金相组织。对于较小的试样，需要在磨制之前进行镶嵌。小试样的镶嵌在金相镶嵌机中进行，该过程需要使用镶嵌料和一定的保温时间。因此操作过程比较复杂，用时较多，使实验效率难以提高。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是简化材料测试操作过程，缩短实验时间，提高实验效率。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种小试样免镶嵌磨金相装置，该实验装置包括包括试样上端防动盖、上盖、小螺钉、圆柱壳、螺钉、薄金属板，其特征在于上盖置于圆柱壳的上端，与试样上端防动盖螺纹配合；圆柱壳四周和上表面设有螺纹孔，圆柱壳的内部置有薄金属板，薄金属板之间的距离和试样上端防动盖的位置分别由螺钉和小螺钉控制。

所述试样上端防动盖上螺柱顶端开有凹槽。

所述圆柱壳内侧开有四条轴向滑槽，薄金属板两端置于滑槽中。

与现有技术相比，本实用新型一种小试样免镶嵌磨金相装置无需使用金相镶嵌机镶嵌试样，操作简单，可以节省实验时间，提高实验效率。

附图说明

图1为一种小试样免镶嵌磨金相装置的整体外观图。

图2为一种小试样免镶嵌磨金相装置的透视图。

图中：1、试样上端防动盖，2、上盖，3、小螺钉，4、圆柱壳，5 、螺钉，6、薄金属板。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施方式对本实用新型进行详细说明。

如图1-2所示，本实用新型一种小试样免镶嵌磨金相装置包括试样上端防动盖1、上盖2、小螺钉3、圆柱壳4、螺钉5、薄金属板6；上盖置于圆柱壳的上端，与试样上端防动盖螺纹配合；圆柱壳四周和上表面设有螺纹孔，圆柱壳的内部置有薄金属板，薄金属板之间的距离和试样上端防动盖的位置分别由螺钉和小螺钉控制。

本实用新型工作时，将小试样待磨制面朝下置入圆柱壳4内，使小试样的上部与试样上端防动盖1接触，调节试样上端防动盖1的高度，确保小试样待磨制面稍低于圆柱壳4的下表面，防止磨金相过程中圆柱壳1下端被磨损，拧紧圆柱壳4上表面的小螺钉3，固定试样上端防动盖1的上表面位置，同时拧紧圆柱壳4四周的螺钉5，使薄金属板6之间的间距减小，固定小试样，即可进行小试样的金相磨制实验。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，不用于限制本实用新型，在此基础上所作的未改变本实用新型实质的任何修改，皆应包含在本实用新型的保护范围之内。