[实用新型]一种用于热解析进样的进样装置有效

专利信息
申请号: 201621232761.0 申请日: 2016-11-17
公开(公告)号: CN206225319U 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 王新;渠团帅;李海洋 申请(专利权)人: 中国科学院大连化学物理研究所
主分类号: H01J49/04 分类号: H01J49/04
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司21002 代理人: 马驰
地址: 116023 辽宁省*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 解析 装置
【权利要求书】:

1.一种用于热解析进样的进样装置,其特征在于:包括一圆形平板,于圆形平板上表面开设有一用于放置”o”圈的环形凹槽(2),于环形凹槽内、圆形平板上表面开设有一用于平铺样品的第一凹槽(1);于圆形平板下表面中部设有一圆形凸起,于圆形凸起下表面开设有一用于与电机装置组件连接的第二凹槽(3)。

2.根据权利要求1所述的用于热解析进样的进样装置,其特征在于:圆形凸起与圆形平板同轴。

3.根据权利要求1所述的用于热解析进样的进样装置,其特征在于:圆形平板直径大于圆形凸起直径;直径之差大于2mm。

4.根据权利要求1所述的用于热解析进样的进样装置,其特征在于:圆形平板下表面、圆形凸起侧表面均为光滑面,其为固定用面。

5.根据权利要求1所述的用于热解析进样的进样装置,其特征在于:环形凹槽(2)和第一凹槽(1)均为圆形,且它们均与圆形平板同轴。

6.根据权利要求1所述的一种用于热解析进样的进样装置,其特征在于:圆形平板与圆形凸起为一体结构,材料为聚四氟乙烯材料或是皮克材料,圆形平板与圆形凸起同轴;圆形平板高度1-3mm,圆形凸起高度2-5mm;第一凹槽腔体盛放待测样品,构成热解析腔体一部分;环形凹槽内放置“o”圈,用于保证热解析腔体密封。

7.根据权利要求1所述的一种用于热解析进样的进样装置,其特征在于:第一凹槽设计与热源进样器位置匹配,深度为0.5-2mm、直径0.5-1cm。

8.根据权利要求1和3所述的一种用于热解析进样的进样装置,其特征在于:第一凹槽内平铺一圆形薄片,材料为滤纸、铝或不锈钢,用于集中热源,使待分析目标物迅速热解析。

9.根据权利要求1所述的一种用于热解析进样的进样装置,其特征在于:第二凹槽用于与电机组件相连接,完成进样装置密封动作。

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