[实用新型]一种千分尺

说明书

技术领域

本实用新型涉及精密测量技术领域，尤其是涉及一种应用于测量零件外圆径向槽高精度槽底直径的可调式直进叶片千分尺。

背景技术

很多回转体类零件存在一些空间狭小、截面复杂、槽底直径要求公差严格的外圆径向槽结构。这些部位空间狭小，普通千分尺测量的微测螺杆及测砧无法达到测量位置；而且千分尺标准规格为0-25、25-50mm，存在测量范围小，适应性差的缺点。适用的专用测量工装成本高，设计周期长，利用率低，无法满足生产模式以小批量多批次的发展变化需求。适用于此类零件通用、高效的测量方法是制约此类零件加工效率与精度提高的瓶颈。

发明内容

本实用新型提供一种千分尺，目的在于解决上述空间狭小、截面复杂、槽底直径要求公差严格的外槽结构测量困难的问题，提供一种新型通用测量工具。

本实用新型提供了一种千分尺，包括曲柄(4)，曲柄(4)上两侧分别设置固定端测量头和可动端测量头，其特征在于，可动端测量头包括直进式测砧(5)和测微螺杆(6)，测微螺杆(6)旋转推动直进式测砧(5)前后移动，

直进式测砧(5)包括通过直杆相连的测砧滑块(5-1)和球窝(5-2)，测微螺杆(6)包括螺杆本体(6-2)和球头(6-1)，球窝(5-2)与球头(6-1)配合形成球副结构，测砧滑块(5-1)的轴线、球副结构的球心、螺杆本体(6-2)的轴线处于同一条直线。

进一步地，所述固定端测量头包括固定螺母(1)、调节螺母(2)和可调式砧头(3)，可调式砧头(3)有不同的尺寸规格，通过固定螺母(1)、调节螺母(2)实现可调式砧头(3)的更换和调节。

进一步地，可调式砧头(3)和测砧滑块(5-1)的测量端设置对应的片状结构。

本发明的有益效果

本实用新型涉及的千分尺，通过特殊的连接结构保证直进式测砧与测微螺杆的可靠连接，实现了直进式测砧在自身不旋转的同时，完成直线运动，从而避免了直进式测砧旋转时与零件结构的干涉；通过系列化、可调整可调式砧头，扩展千分尺量程。上述设计提供了一种新型通用测量工具，有效提高产品零件的加工精度和测量效率。

附图说明

图1是本发明的结构示意图。

图2直进式千分尺实现直线运动部分机构简图

具体实施方式

下面结合附图对本发明进一步说明。

如图1所示，本实用新型所述的可调式直进千分尺，包括曲柄4，曲柄4上两侧分别设置固定端测量头和可动端测量头，其特征在于，可动端测量头包括直进式测砧5和测微螺杆6，测微螺杆6旋转推动直进式测砧5前后移动，

直进式测砧5包括通过直杆相连的测砧滑块5-1和球窝5-2，测微螺杆6包括螺杆本体6-2和球头6-1，球窝5-2与球头6-1配合形成球副结构，测砧滑块5-1的轴线、球副结构的球心、螺杆本体6-2的轴线处于同一条直线。

进一步地，所述固定端测量头包括固定螺母1、调节螺母2和可调式砧头3，可调式砧头3有不同的尺寸规格，通过固定螺母1、调节螺母2实现可调式砧头3的更换和调节。

进一步地，可调式砧头3和测砧滑块5-1的测量端设置对应的片状结构。

曲柄一端设置有与可调式砧头配合的4H6连接孔，可调试砧头设置有与固定螺母配合外螺纹M4×1-5h及与调节螺母配合的外螺纹M4×0.7-5h。测微螺杆尾端设置有微分筒内锥面配合的外锥面，另一端设置有与直进式测砧连接的连接孔5H5。限位销限制直进式测砧发生旋转。