[实用新型]一种光学传感器可靠性试验系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种传感器可靠性试验系统，特别是关于一种光学传感器可靠性试验系统。

背景技术

光学互感器以其无磁饱和、绝缘性能好及抗干扰能力强等优点在电力系统测量和保护中得到了广泛关注。测量精度的温度稳定性和长期运行可靠性是光学互感器实用化和推广应用的两个关键性能指标。目前，光学互感器测量精度的温度稳定性已基本能满足现场要求。但是，光学互感器的长期运行可靠性特别是其使用寿命还无法通过现场仅有的几年运行时间获得。

基于光学原理的光学互感器是光机电一体化的产品，其可靠性涉及面广、影响因素复杂、故障模式众多。将光学互感器作为整体，分析其可靠性有一定的难度，一般将光学互感器分为若干组成部件逐个分析，然后再通过相应的可靠性模型进行整体可靠性评估。光学互感器的关键部件是光学传感器，其可靠性在很大程度上决定了光学互感器的可靠性水平。为了促使光学互感器在智能变电站中的推广应用，并保证光学互感器的长期运行可靠性，有必要对光学互感器的关键组成部件光学传感器进行可靠性试验，并对其预计使用寿命进行评估。国内外关于光学传感器，特别是对光学电流传感器和光学电压传感器可靠性的研究较少，还没有针对性的可靠性试验标准和方法，更没有建立针对光学传感器的可靠性试验系统。

发明内容

针对上述问题，本实用新型的目的是提供一种能够对光学电流传感器或光学电压传感器进行可靠性试验的光学传感器可靠性试验系统。

为实现上述目的，本实用新型采取以下技术方案：一种光学传感器可靠性试验系统，其特征在于，该试验系统包括光信号发射及检测单元、环境试验箱、合并单元和监测装置；所述环境试验箱用于盛放待检测的光学传感器样本，并根据可靠性试验类型调节相应环境条件；所述光信号发射及检测单元向所述光学传感器样本发送检测光信号，接收所述光学传感器样本发回的反馈光信号，并将所述检测光信号和反馈光信号分别转换为对应的数字量信号发送到所述合并单元；所述合并单元将数字量信号进行合并后发送到所述监测装置。

进一步地，所述光信号发射及检测单元包括LED光源组、分光器组和采集器组；所述LED光源组中的每个LED光源将测试光发射到所述分光器组的相应分光器，每一所述分光器均将一束测试光按设定比例分成两束；经每一所述分光器出射的其中一束测试光发射到相应光学传感器样本进行可靠性测试，完成可靠性测试的光经所述光学传感器样本发射到采集器组；经每一所述分光器出射的另一束测试光直接进入所述采集器组；所述采集器组中的每个采集器将对应采集的信号进行模数转换得到数字量数据，并将得到的数字量数据发送到所述合并单元。

进一步地，所述LED光源组、分光器组和采集器组均设置在一恒温箱内。

进一步地，所述光学传感器样本为光学电流传感器或光学电压传感器。

本实用新型由于采取以上技术方案，其具有以下优点：1、本实用新型的LED光源组将测试光发射到分光器组，分光器组将一束测试光按设定比例分成两束测试光，由于在试验系统中利用分光器组引入LED光源信息，剔除了LED光源输出光功率波动对光学传感器静态工作光强的影响，使得获得光学传感器的可靠性数据更加准确。2、本实用新型可以通过环境试验箱设置的不同环境条件完成对光学传感器的一般可靠性试验和耐久性试验，因此不仅可以用于光学传感器在产品研制过程中的可靠性寿命评估的可靠性加速试验，为确定光学传感器在规定使用条件下的使用寿命获取必要的可靠性定量数据，也可以用于定性产品生产过程中的产品可靠性筛选试验。本实用新型可以广泛应用于光学传感器的可靠性测试中。

附图说明

图1是本实用新型的光学传感器可靠性试验系统的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图来对本实用新型进行详细的描绘。然而应当理解，附图的提供仅为了更好地理解本实用新型，它们不应该理解成对本实用新型的限制。

如图1所示，本实用新型提供的光学传感器可靠性试验系统，包括LED光源组1、分光器组2、采集器组3、光学传感器样本4、合并单元5、监测装置6、恒温箱7和环境试验箱8；其中，LED光源组1、分光器组2和采集器组3可以作为光信号发射及检测单元，LED光源组1包括的LED光源个数、分光器组2包括的分光器个数、采集器组3包括的采集器个数均与光学传感器样本4所包括的光学传感器的个数相一致。