[实用新型]测量探头及测量设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及探头领域，尤其涉及一种测量探头及测量设备。

背景技术

传统的，对于使用测量探头进行测量的测量设备，一般是将测量探头点在相关触点的接触表面进行测量。在测量过程中,由于手的抖动可能导致接触面积发生变化,导致量测的数值误差较大,当接触表面存在氧化时误差尤其明显。

发明内容

基于此，本实用新型在于克服现有技术的缺陷，提供一种检测误差小的测量探头及测量设备。

其技术方案如下：

一种测量探头，用于与信号分析本体电性连接，所述测量探头包括探头本体，所述探头本体包括用于与受测设备的接触表面接触的测量探针，所述探头本体上设有电加热体以及用于控制所述电加热体的控制开关，所述电加热体与所述测量探针连接用于加热所述测量探针。

在其中一个实施例中，所述探头本体还包括连接导线，所述连接导线的一端与所述测量探针电性连接，所述连接导线的另一端用于与所述信号分析本体电性连接。

在其中一个实施例中，所述探头本体还包括绝缘外壳，所述绝缘外壳设置在所述测量探针与所述连接导线的交接处外侧。

在其中一个实施例中，所述电加热体设置在所述绝缘外壳内部。

在其中一个实施例中，所述绝缘外壳的外侧设有用于控制所述控制开关的开关按键。

在其中一个实施例中，所述电加热体包括加热本体、导热丝以及电源输入导线，所述导热丝连接所述加热本体与所述测量探针，所述电源输入导线的一端与所述加热本体连接，所述电源输入导线的另一端用于与信号分析本体的电源连接。

在其中一个实施例中，所述加热本体为高频加热体、电阻式加热体、发热丝或电热片。

在其中一个实施例中，所述测量探针为金属探针。

一种测量设备，包括信号分析本体以及所述的测量探头。

在其中一个实施例中，该测量设备为万用表或示波器。

本实用新型的有益效果在于：

所述测量探头，探头本体的测量探针用于点在受测设备的接触表面上的测试点处,进行测量时，可先判断接触表面的测试点处是否为可熔表面，若不是，可直接采用测量探针进行测量读数，若是，可打开所述控制开关,使得电加热体对测量探针进行加热，测量探针点到测试点上时，测试点处的可熔表面会有少量熔掉，此时，将测量探头少许插入测试点处的可熔表面内，停止加热使得可熔表面固化后读取测量数值，读取完成后再对测量探针进行加热,使得测量探针从可熔表面取出，完成测试动作。所述测量探头进行测量时，能够对受测设备的接触表面进行加热，进而使得测量探针能够与接触表面充分接触，测量时测量探针为固定状态，接触面积不易发生变化，检测误差小。

所述测量设备，包括上述所述的测量探头，具备所述测量探头的技术效果，检测误差小。

附图说明

图1为本实用新型实施例所述的测量探头的结构示意图；

图2为本实用新型实施例所述的测量设备的测量结构示意图。

附图标记说明：

100、测量设备，110、探头本体，111、测量探针，112、电加热体，1121、加热本体，1122、导热丝，1123、电源输入导线，113、控制开关，114、连接导线，115、绝缘外壳，116、开关按键，120、信号分析本体，200、受测设备，210、接触表面。

具体实施方式

下面对本实用新型的实施例进行详细说明：

如图1、图2所示，一种测量探头，用于与信号分析本体120电性连接。所述测量探头包括探头本体110，所述探头本体110包括用于与受测设备200的接触表面210接触的测量探针111，所述探头本体110上设有电加热体112以及用于控制所述电加热体112的控制开关113，所述电加热体112与所述测量探针111连接用于加热所述测量探针111。本实施例中，所述测量探针111为金属探针，电加热体112能够对测量探针111进行有效的、快速的加热。