[实用新型]消偏振分光片有效

专利信息
申请号: 201621269148.6 申请日: 2016-11-24
公开(公告)号: CN206270529U 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: 朱元强 申请(专利权)人: 福建福特科光电股份有限公司
主分类号: G02B5/30 分类号: G02B5/30
代理公司: 福州市众韬专利代理事务所(普通合伙)35220 代理人: 王旭,王良财
地址: 350100 福建省福州*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 偏振 分光
【权利要求书】:

1.一种消偏振分光片,其特征在于:该分光片由光学玻璃基底以及沉积在光学玻璃基底上的分光膜组成,所述分光膜由14层膜层组成,该14层膜层由高折射率介质材料TiO2膜层和低折射率介质材料SiO2膜层多次交替堆叠组成,该14层膜层从内至外依次为:第1层,TiO2膜层,厚度为49.3-50.3nm;第2层,SiO2膜层,厚度为84.2-85.9nm;第3层,TiO2膜层,厚度为39.5-40.3nm;第4层,SiO2膜层,厚度为67.0-68.3nm;第5层,TiO2膜层,厚度为36.2-37.0nm;第6层,SiO2膜层,厚度为77.3-78.9nm;第7层,TiO2膜层,厚度为49.0-50.0nm;第8层,SiO2膜层,厚度为101.1-103.2nm;第9层,TiO2膜层,厚度为58.4-59.5nm;第10层,SiO2膜层,厚度为114.4-116.7nm,第11层,TiO2膜层,厚度为85.8-87.5nm;第12层,SiO2膜层,厚度为196.8-200.8nm;第13层,TiO2膜层,厚度为79.5-81.1nm;第14层,SiO2膜层,厚度为154.6-157.7nm。

2.根据权利要求1所述的消偏振分光片,其特征在于:所述14层膜层的厚度依次为:第1层,TiO2膜层,厚度为49.8nm;第2层,SiO2膜层,厚度为85.1nm;第3层,TiO2膜层,厚度为39.9nm;第4层,SiO2膜层,厚度为67.7nm;第5层,TiO2膜层,厚度为36.6nm;第6层,SiO2膜层,厚度为78.1nm;第7层,TiO2膜层,厚度为49.5nm;第8层,SiO2膜层,厚度为102.1nm;第9层,TiO2膜层,厚度为59.0nm;第10层,SiO2膜层,厚度为115.6nm,第11层,TiO2膜层,厚度为86.6nm;第12层,SiO2膜层,厚度为198.8nm;第13层,TiO2膜层,厚度为80.3nm;第14层,SiO2膜层,厚度为156.1nm。

3.根据权利要求1或2所述的消偏振分光片,其特征在于:所述光学玻璃基底的折射率为1.49-1.56。

4.根据权利要求1或2所述的消偏振分光片,其特征在于:所述光学玻璃基底采用K9或D263T或B270或BK7等。

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