[实用新型]测量装置

权利要求书

1.一种测量装置，所述测量装置包括至少一个测微片，其特征在于，还包括：

顶部构件，所述顶部构件直线状地延伸；

支承构件，所述支承构件与所述顶部构件连接，以将所述顶部构件支承于测量面上；

其中，所述测微片在其内包含开孔，所述顶部构件穿过所述开孔，以使得所述测微片能套装到所述顶部构件上，且所述测微片能相对于所述顶部构件摆动到测量位置。

2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，还包括底部构件，所述顶部构件直线状地延伸，所述底部构件与所述顶部构件平行、但在垂直方向上不对准，并且比所述顶部构件更接近于所述测量面。

3.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述顶部构件包含刻度。

4.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述底部构件包含刻度。

5.如权利要求4所述的测量装置，其特征在于，所述测微片能相对于所述顶部构件摆动到与所述测量位置不同的校正位置，在所述校正位置中，所述测微片搁置于所述底部构件上。

6.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述支承构件包括连接构件，所述连接构件设置成连接所述顶部构件与所述底部构件。

7.如权利要求5所述的测量装置，其特征在于，所述支承构件包括连接构件，所述连接构件设置成连接所述顶部构件与所述底部构件，所述底部构件包括第一底部构件和第二底部构件，所述连接构件将所述第一底部构件、所述第二底部构件以及所述顶部构件连接成三棱柱式框架，在所述校正位置中，所述测微片搁置于所述第一底部构件和所述第二底部构件中的一者之上。

8.如权利要求7所述的测量装置，其特征在于，所述连接构件包括分别在所述第一底部构件、所述第二底部构件以及所述顶部构件的纵向两端处使三者连接起来的横梁。

9.如权利要求8所述的测量装置，其特征在于，在所述三棱柱式框架中，所述第一底部构件和所述第二底部构件关于所述顶部构件为对称布置，所述第一底部构件、所述第二底部构件以及所述顶部构件的长度相等。

10.如权利要求1-9中任一项所述的测量装置，其特征在于，在所述测量位置中，所述测微片定向成与所述测量面垂直。

11.如权利要求1-9中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述开孔沿所述测微片的纵向延伸，并且构造成使得所述顶部构件在所述测微片的所述开孔内的纵向位置能改变。

12.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述测微片的长度大于所述顶部构件与所述底部构件之间的直线距离。

13.如权利要求1-9中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述顶部构件的横截面为圆形。

14.如权利要求1-9中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述测微片能沿着所述顶部构件的纵向自由地移动。

15.如权利要求1-9中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括用于对测量空间进行照明的可开关的光源。

16.如权利要求4-9中任一项所述的测量装置，其特征在于，在所述底部构件上设有吸盘，以将所述测量装置固定在所述测量面上。