[实用新型]一种电阻电压值采集通道扩展装置及系统有效
申请号: | 201621301018.6 | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN206411228U | 公开(公告)日: | 2017-08-15 |
发明(设计)人: | 周捍章;杨永育;马雪怀 | 申请(专利权)人: | 福建星网视易信息系统有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙)35212 | 代理人: | 宋连梅 |
地址: | 350000 福建省福州市仓山区建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电阻 电压 采集 通道 扩展 装置 系统 | ||
技术领域
本实用新型涉及通讯测试技术领域,尤其涉及一种电阻电压值采集通道扩展装置及系统。
背景技术
目前电子产品的电路板出厂前进行测试时,通常需要采用电压电阻测试装置对电路板上各测试点的电压值及电阻值进行分别检测。而目前常规的电压电阻测试装置,测试通道数量固定,无法进行扩展。
随着电子产品功能不断增加或者方案的不断升级,其电路板的复杂程度也不断增加,需要进行电压电阻检测的测试点也相应的越来越多,导致电压电阻测试装置需要不断地重新设计增加测试通道以适应新的产品。这样由于新产品往往需要重新设计对应的电压电阻测试装置,不仅影响了新产品的检测速度及投入市场时间,也增加了新产品的整体成本。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题之一,在于提供一种电阻电压值采集通道扩展装置,作为电阻电压测试装置的扩展装置,可配合电阻电压测试装置使用;采用模块化接插方式,可以灵活按照需求将扩展装置接插在电阻电压测试装置上,快速对电压电阻测试装置的测试通道进行扩展,从而适应各种电子产品的电路板测试。
本实用新型问题之一是这样实现的:一种电阻电压值采集通道扩展装置,包括一个以上的模拟开关阵列器件、一逻辑器件、一总线通讯接口、以及测试点接口;所述测试点接口分别与一个以上的模拟开关阵列器件连接,所述逻辑器件分别与一个以上的模拟开关阵列器件连接,所述总线通讯接口与所述逻辑器件连接。
进一步的,所述扩展装置还包括一电源电路,所述电源电路包括正电源电路和负电源电路,所述电源电路为扩展装置提供电源。
进一步的,所述测试点接口为D-sub接口。
进一步的,所述模拟开关阵列器件为继电器阵列或芯片组。
本实用新型要解决的技术问题之二,在于提供一种电阻电压值采集系统,能适应各种电子产品的电路板测试。
本实用新型问题之二是这样实现的:一种电阻电压值采集系统,其包括电压电阻测试装置和一个以上所述的电阻电压值采集通道扩展装置;所述电阻电压值采集通道扩展装置一端与电压电阻测试装置连接,另一端与被测电路板连接。
进一步的,所述电阻电压值采集通道扩展装置设有地址线和数据线,所有电阻电压值采集通道扩展装置的地址线分别并联,数据线也分别并联。
本实用新型具有如下优点:本实用新型作为电阻电压测试装置的扩展装置,配合电阻电压测试装置使用;本实用新型具备稳定温度特性曲线的特点,有较低的导通电阻和具备传输正、负不同电压值的能力,且能够承受一定的电流通过;本实用新型采用模块化接插方式,可以灵活按照需求将扩展装置接插在电阻电压测试装置上。
附图说明
下面参照附图结合实施例对本实用新型作进一步的说明。
图1为本实用新型结构示意图。
图2为本实用新型的与电阻电压测试装置配合使用的工作原理图。
图3为本实用新型的电阻电压值采集系统的结构示意图。
具体实施方式
请参阅图1所示,一种电阻电压值采集通道扩展装置,包括一个以上的模拟开关阵列器件1、一逻辑器件2、一总线通讯接口3、以及测试点接口4;所述测试点接口4分别与一个以上的模拟开关阵列器件1连接,所述逻辑器件2分别与一个以上的模拟开关阵列器件1连接,所述总线通讯接口3与所述逻辑器件2连接。
总线通讯接口3一端连接电阻电压测试装置,另一端与逻辑器件2连接,所述总线通讯接口3和逻辑器件2之间通过BCD编码格式的数据进行通讯;模拟开关阵列器件1为多输入、单输出模式器件,多个模拟开关阵列器件1 的输出端分别并联。模拟开关阵列器件1可以多继电器阵列或芯片组。所述多继电器阵列可以是4个、9个、16个、或24个等继电器组成的阵列,每个继电器为两个测试通道。所述芯片组可以是一个或以上的模拟通道切换器件,该模拟通道切换器件通常包含16个可切换的模拟传输通道。每个通道扩展装置分别设有唯一的数据线和地址线。
逻辑器件2连接每个通道扩展装置的数据线和地址线,通过逻辑器件2 确定某时刻哪个测试点与总线通讯接口3连接进行测试,同时通过逻辑器件 2还可与指定的通道扩展装置连接;测试点接口4连接被测电路板。模拟开关需要传输正、负电压数据,需要接入正、负电源供电,并且电压宽度要大于所传输数据电压范围。逻辑器件2通过总线通讯接口3与电阻电压测试装置(未图示)连接。所述测试点接口为D-sub接口。
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