[实用新型]一种用于二维扫描式激光测距光路装置有效
| 申请号： | 201621333106.4 | 申请日： | 2016-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN206387903U | 公开（公告）日： | 2017-08-08 |
| 发明（设计）人： | 高东峰;王剑波;王磊 | 申请（专利权）人： | 北京因泰立科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/481 | 分类号： | G01S7/481;G01S17/32 |
| 代理公司： | 北京太兆天元知识产权代理有限责任公司11108 | 代理人： | 张洪年 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 二维 扫描 激光 测距 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于二维扫描式激光测距光路装置，其特征在于，包括：透过发射波的高通滤光片或者窄带滤光片，直角棱镜具有斜面镀铝膜，粘结直角棱镜的塑料底座，直角棱镜定位工装构件和道威棱镜；
滤光片安装在接收系统前，并固定在带有平面的固定工装构件上，直角棱镜和塑料底座粘结，使用定位工装构件定位，并粘接在滤光片上，保证直角棱镜的同轴度和平行度；
塑料底座的斜面和两个直角面设置有溢胶槽，保证直角棱镜和塑料底座在粘结时的平行度；
当45度旋转镜旋转到道威棱镜时，发射的激光先经过直角棱镜反射，然后经45度旋转镜反射，进入道威棱镜返回，再经45度旋转镜反射，由接收透镜接收，道威棱镜反射发射能量，检测反馈能量强弱及有无，对测距设备运行情况进行实时监控。
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