[实用新型]芯片多面包封保护结构有效

专利信息
申请号: 201621342233.0 申请日: 2016-12-08
公开(公告)号: CN206293426U 公开(公告)日: 2017-06-30
发明(设计)人: 于大全;杨力 申请(专利权)人: 华天科技(昆山)电子有限公司
主分类号: H01L23/29 分类号: H01L23/29;H01L23/31;H01L21/56
代理公司: 昆山四方专利事务所32212 代理人: 盛建德,段新颖
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 芯片 多面 保护 结构
【权利要求书】:

1.一种芯片多面包封保护结构,其特征在于:包括一芯片,所述芯片包含第一表面、与其相对的第二表面,以及侧面;所述第一表面包含焊垫以及与其电连接的凸点,所述芯片的第一表面及侧面上包封有可光刻聚合物材料,所述第一表面上的可光刻聚合物材料暴露出所述凸点。

2.根据权利要求1所述的芯片多面包封保护结构,其特征在于:所述芯片的第二表面设置有保护层。

3.根据权利要求1所述的芯片多面包封保护结构,其特征在于:所述凸点表面低于所述可光刻聚合物材料表面。

4.根据权利要求1所述的芯片多面包封保护结构,其特征在于:所述可光刻聚合物材料为可光刻胶或干膜,第一表面上可光刻聚合物材料的厚度大于10微米。

5.根据权利要求1所述的芯片多面包封保护结构,其特征在于:所述芯片侧面上可光刻聚合物材料的厚度大于1μm。

6.根据权利要求1所述的芯片多面包封保护结构,其特征在于:所述保护层的材料为树脂类的胶或干膜。

7.根据权利要求6所述的芯片多面包封保护结构,其特征在于:所述保护层的厚度为5μm至40μm。

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