[实用新型]一种用于片式电子元器件测试的通用测试座

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子元器件测试技术领域，具体涉及一种片式电子元器件的自动化测试、编带设备上测量产品各项参数的通用测试座。

背景技术

在片式电子元器件，特别是片式多层瓷介电容器的出厂测试、包装过程中，现有设备大多能够做到直接测量后将参数不合格的产品剔除后将合格产品进行编带包装。而测试产品参数的探针在现在大多采用针式设计，探针针头直接接触产品的端头进行测试，这样做在高速测试的过程中会对产品端头造成损坏，而且探针测试往往需要根据不同产品对探针进行更换，通用性不强，在这种情况下，需要设计一种能够很好的保护产品端头并且能够兼容各种尺寸产品的测试座。

实用新型内容

针对上述问题中存在的不足之处，本实用新型提供一种用于片式电子元器件测试的通用测试座。

本实用新型公开了一种用于片式电子元器件测试的通用测试座，包括：

底座，所述底座为横板和竖板构成的L型结构；

所述竖板上安装有两个左右对称且可上下滑动的测试块，每个所述测试块与产品的接触面为倾斜面，两个所述测试块的倾斜面相对设置形成容纳不同尺寸产品的三角形区域；

所述横板上设有用于顶起所述测试块的弹簧。

作为本实用新型的进一步改进，所述横板和竖板为一体式结构。

作为本实用新型的进一步改进，所述横板上设有用于将通用测试座安装在设备上的螺丝孔。

作为本实用新型的进一步改进，所述竖板上安装有两个呈左右平行分布的滑轨，所述滑轨上滑设有滑块，所述测试块对应安装在所述滑块上。

作为本实用新型的进一步改进，所述弹簧设置在所述滑块与横板之间。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

本实用新型公开了一种用于片式电子元器件测试的通用测试座，两个测试块的倾斜面形成三角形区域，产品在进行测试时其与倾斜面的接触方式为线接触，保护了产品外观，解决了探针对产品端头损伤的问题；同时，三角形区域可容纳不同尺寸的产品，增加了测试座的实用性。

附图说明

图1为本实用新型一种实施例公开的用于片式电子元器件测试的通用测试座的结构图；

图2为图1中测试块的结构图；

图3为图1中底座与滑块的安装结构图；

图4为本实用新型一种实施例公开的用于片式电子元器件测试的通用测试座测试产品的示意图。

图中：

1、底座；1-1、横板；1-2、竖板；1-3、螺丝孔；2、测试块；2-1、倾斜面；3、弹簧；4、滑轨；5、滑块；6、产品；7、吸嘴。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

下面结合附图对本实用新型做进一步的详细描述：

针对现有技术中存在的问题，本实用新型设计一种用于片式电子元器件的自动化测试、编带设备上的通用测试座，能够保护产品外观，增加实用性。

如图1-3所示，本实用新型提供一种用于片式电子元器件测试的通用测试座，包括：底座1、测试块2、弹簧3、滑轨4和滑块5；

本实用新型的底座1为横板1-1和竖板1-2构成的一体式L型结构，横板1-1上设有用于将通用测试座安装在设备上的螺丝孔1-3。

如图2所示，本实用新型设计一种测试块2，测试块2与产品端头接触部位为倾斜面2-1，两个测试块2的倾斜面2-1相对可形成一个三角形区域，该三角形区域可以容纳不同尺寸的产品。

如图3所示，本实用新型在竖板1-2上安装有两个呈左右平行分布的滑轨4，即左滑轨与右滑轨；每个滑轨4上均滑设固定有一滑块5，即左滑块与右滑块；两个测试块2对应安装在两个滑块5上，即左测试块安装在左滑块上、右测试块安装在右滑块上；两个测试块2的倾斜面2-1相对形成一个三角形区域；同时，两个测试块2在同一水平面上。

本实用新型在每个滑块5与横板1-1之间均设有一弹簧3，弹簧3用于将安装有测试块2的滑块5顶起，在产品接触测试块2时，弹簧3的力度即能够保证测试块2与产品接触良好，又能保证不损伤产品的电极。