[实用新型]一种双头测试探针

说明书

技术领域

本实用新型属于测试技术领域，涉及一种双头测试探针。

背景技术

探针已被广泛应用于仪表和测试行业中，是精密测量电阻或者其他电信号最常用的采样手段，探针的主要类型：悬臂探针和垂直探针。目前，现有的探针加工精度比较高，加工组装过程也比较繁琐，从而大大增加了加工成本，同时，探针的针头在长期的使用过程中易损，而导致整个探针被弃用。

所以，对于本领域内的技术人员，还有待研发出一种能够便于装配，且替换针头的双头测试探针。

发明内容

本实用新型的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种双头测试探针，本双头测试探针具有便于装配，且易替换针头的特点。

本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现：

一种双头测试探针，包括针头一、针头二、弹簧和外管，其特征在于，外管包括管体一和管体二，所述的管体一的一端开设有直槽一，管体一的另一端开设有与直槽一相通的穿出孔一，所述的管体二的一端开设有直槽二，管体一的另一端开设有与直槽二相通的穿出孔二，所述的管体一和管体二之间螺纹连接，所述的弹簧位于外管内，所述的外管内还设有杆件一和杆件二，所述的杆件一包括连接杆一和连接杆二，且连接杆一与连接杆二相互固定，所述的针头一一端螺纹连接在连接杆一上，针头一的另一端从穿出孔一穿出管体一，所述的杆件二包括连接杆三和连接杆四，且连接杆三与连接杆四相互固定，所述的针头二螺纹连接在连接杆三上，针头二的另一端从穿出孔一穿出管体二，所述的连接四沿着长度方向开设有圆孔，所述的圆孔的直径大于连接杆二的外径，且连接杆二卡设在连接杆四的圆孔内，所述的连接杆一和连接杆三的外径均大于弹簧的外径，直槽一和直槽二的孔径相等，穿出孔一和穿出孔二的孔径相等，连接杆一和连接杆三的外径均大于直槽一的孔径，连接杆一和连接杆三的外径均小于穿出孔一的孔径。

本双头测试探针中的弹簧位于外管内，且组成外管的管体一和管体二螺纹连接便于装卸，杆件一中的连接杆二位于弹簧内，杆件二中的连接杆四位于弹簧内，且连接杆二卡设在连接杆四的圆孔内，防止弹簧在被挤压过程中过度走形影响测试精度，同时，连接杆一和连接杆三的外径均大于弹簧的外径，使弹簧被限位在连接杆一和连接杆三之间，连接杆一和连接杆三被限位在管体一和管体二的孔径内，并没有采用直接固定的方式，从而便于装配，且替换针头。

在上述双头测试探针中，所述的管体一上固定有连接环，所述的连接环的外壁上开设有外螺纹，所述的管体二的直槽二内壁上开设有与连接环外螺纹相匹配的内螺纹。通过管体一上的连接环，从而能够使管体一螺纹连接在管体二上。

在上述双头测试探针中，所述的连接环的内径大于弹簧的外径。从而能够使弹簧位于管体一和管体二内。

在上述双头测试探针中，所述的连接杆二的一端固定有卡块一和卡块二，所述的连接杆四圆孔内壁上开设有与卡块一相匹配的滑槽一，连接杆四圆孔内壁上开设有与卡块二相匹配的滑槽二。连接杆二上的卡块一、卡块二分别能够在连接杆四的滑槽一、滑槽二内滑动。

在上述双头测试探针中，所述的连接杆四圆孔内壁上开设有与卡块一相匹配的卡槽一，卡槽一和滑槽一相通，所述的连接杆四圆孔内壁上开设有与卡块二相匹配的卡槽二，卡槽二和滑槽二相通。连接杆二上的卡块一、卡块二分别伸入到对应连接杆四的滑槽一、滑槽二内，转动连接杆二，使卡块一、卡块二分别滑入到卡槽一、卡槽二内，从而能够实现将连接杆二卡设到连接杆四内。

在上述双头测试探针中，所述的针头一的一端具有尖角，所述针头一尖角的锥度为40°-60°，所述的针头二的一端具有尖角，所述针头二尖角的锥度为50°-70°。在实际应用过程中，针头一尖角的锥度选取40°，针头二尖角的锥度选取60°，从而能够扩大适用范围。

与现有技术相比，本双头测试探针具有以下优点：组成外管的管体一和管体二螺纹连接便于装卸，杆件一中的连接杆二位于弹簧内，杆件二中的连接杆四位于弹簧内，且连接杆二卡设在连接杆四的圆孔内，防止弹簧在被挤压过程中过度走形影响测试精度，同时，弹簧被限位在连接杆一和连接杆三之间，连接杆一和连接杆三被限位在管体一和管体二的孔径内，并没有采用直接固定的方式，从而便于装配，且易替换针头。

附图说明

图1是本实用新型的爆炸结构示意图；

图2是本实用新型的正视结构示意图；

图3是本实用新型的连接杆二和连接杆四的局部放大结构示意图；

图4是本实用新型的连接杆二卡设在连接杆四上的局部放大结构示意图；