[实用新型]一种基于反射测定的镀膜光纤氢传感器有效

专利信息
申请号: 201621373871.9 申请日: 2016-12-09
公开(公告)号: CN206235559U 公开(公告)日: 2017-06-09
发明(设计)人: 周佳佳;楼伟民;申屠锋营;沈常宇 申请(专利权)人: 中国计量大学
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310018 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 反射 测定 镀膜 光纤 传感器
【权利要求书】:

1.一种基于反射测定的镀膜光纤氢传感器,其特征在于:传感膜(1)、多模光纤(2)、裸光纤适配器(3)、接头套管(4)、分路器(5)、分叉光纤(6)、卤钨光源(7)和光谱仪(8)组成;在剥离涂敷层的普通多模光纤(2)依次镀钛粘附层(9)、镁钛薄膜(10)、钯层(11)和聚四氟乙烯层(12)构成传感膜(1);多模光纤(2)左端连接传感膜(1),右端连接裸光纤适配器(3),裸光纤适配器(3)和分路器(5)中间连接接头套管(4),分路器(5)通过分叉光纤(6)分别与卤钨光源(7)和光谱仪(8)相连。

2.根据权利要求1所述的一种基于反射测定的镀膜光纤氢传感器,其特征在于:所述的传感膜(1)中的钛粘附层(9)的厚度为3纳米。

3.根据权利根据权利要求1所述的一种基于反射测定的镀膜光纤氢传感器,其特征在于:所述的传感膜(1)中镁钛薄膜(10)厚度为60纳米。

4.根据权利要求1所述的一种基于反射测定的镀膜光纤氢传感器,其特征在于:所述的传感膜(1)中钯层(11)的厚度为30纳米。

5.根据权利要求1所述的一种基于反射测定的镀膜光纤氢传感器,其特征在于:所述的传感膜(1)中封顶聚四氟乙烯层(12)的厚度为30纳米。

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