[实用新型]一种衬片承片台装置有效
申请号: | 201621390657.4 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN206293423U | 公开(公告)日: | 2017-06-30 |
发明(设计)人: | 张霖;张泳 | 申请(专利权)人: | 上海精典电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 顾正超 |
地址: | 201206 上海市浦东新区中国*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 衬片承片台 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及半导体集成电路制造领域,且特别涉及一种衬片承片台装置。
背景技术
曝光机(Scanner),作为半导体制程(Semi-conductor Process)中重要的生产用机台,主要用于微影(Litho)制程。一般而言,其与涂布显影机(Track)共同使用,完成微影制程中的图像形成步骤。
曝光机是集成电路芯片制造过程中的重要设备,它要把图形曝光到涂敷有感光胶的硅晶圆片上。硅晶圆片通常设计放在承片台上,硅片背面被真空吸着,承片台的移动和旋转被精确地控制。
随着LED产业和其他新型器件的兴起,需要曝光机设备能适用于4吋蓝宝石片和其他衬片的生产,因此需要改造原先用于8吋和6吋硅片曝光机的承片台系统。
实用新型内容
本实用新型提出一种衬片承片台装置,适配4吋衬片的曝光操作,吸附牢固。
为了达到上述目的,本实用新型提出一种衬片承片台装置,包括:
承片台基座;
承片台,设置于所述承片台基座上,所述承片台上设置有密集分布的真空小孔;
真空泵,其通过管道连接于所述承片台基座。
进一步的,所述承片台上的真空小孔按照从圆心到圆周环状均匀分布。
进一步的,所述承片台适配4吋蓝宝石片和其他4吋衬片。
进一步的,所述真空泵的管道上设置有电磁控制阀。
进一步的,所述真空泵的管道为聚氨酯软管。
进一步的,所述真空泵的管道的内径为4mm。
进一步的,所述承片台基座包括真空接头盒管道,连接于所述真空泵的管道。
进一步的,所述真空接头盒管道的内径为4mm。
本实用新型提出的衬片承片台装置,在承片台表面制作为较密集点状,以有利于更好的真空吸着,解决了蓝宝石应力大、衬片翘曲严重而不易被牢固吸着的问题,并设置有一套独立的真空泵、真空管路系统,增大真空吸力,改造后的承片台可完全适合于4吋蓝宝石衬片,使用方便可靠。
附图说明
图1所示为本实用新型较佳实施例的衬片承片台装置结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图给出本实用新型的具体实施方式,但本实用新型不限于以下的实施方式。根据下面说明和权利要求书,本实用新型的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率,仅用于方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。
请参考图1,图1所示为本实用新型较佳实施例的衬片承片台装置结构示意图。本实用新型提出一种衬片承片台装置,包括:承片台基座100;承片台200,设置于所述承片台基座100上,所述承片台200上设置有密集分布的真空小孔300;真空泵400,其通过管道500连接于所述承片台基座100。
根据本实用新型较佳实施例,所述承片台200上的真空小孔300按照从圆心到圆周环状均匀分布。真空小孔300呈现较密集点状,以有利于更好的真空吸着,解决了蓝宝石应力大、衬片翘曲严重而不易被牢固吸着的问题。
所述承片台200适配4吋蓝宝石片和其他4吋衬片。所述真空泵400的管道500上设置有电磁控制阀600。
所述真空泵400的管道500为聚氨酯软管。所述真空泵400的管道500的内径为4mm。
所述承片台基座100包括真空接头盒管道,连接于所述真空泵400的管道500。进一步的,所述真空接头盒管道的内径为4mm,其内径与真空泵400的管道500的内径保持一致,便于配合连接。
综上所述,本实用新型提出的衬片承片台装置,在承片台表面制作为较密集点状,以有利于更好的真空吸着,解决了蓝宝石应力大、衬片翘曲严重而不易被牢固吸着的问题,并设置有一套独立的真空泵、真空管路系统,增大真空吸力,改造后的承片台可完全适合于4吋蓝宝石衬片,使用方便可靠。
虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上,然其并非用以限定本实用新型。本实用新型所属技术领域中具有通常知识者,在不脱离本实用新型的精神和范围内,当可作各种的更动与润饰。因此,本实用新型的保护范围当视权利要求书所界定者为准。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造