[实用新型]一种检测并指示目标芯片状态的烧录装置有效

专利信息
申请号: 201621401302.0 申请日: 2016-12-20
公开(公告)号: CN206601695U 公开(公告)日: 2017-10-31
发明(设计)人: 熊龙;胡术云;毕超;毕磊 申请(专利权)人: 峰岹科技(深圳)有限公司
主分类号: G06F9/445 分类号: G06F9/445
代理公司: 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙)44309 代理人: 廉红果
地址: 518057 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 指示 目标 芯片 状态 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及集成电路技术领域,具体涉及一种检测并指示目标芯片状态的烧录装置。

背景技术

随着集成电路产业的快速发展,电子产品的竞争愈发激烈。芯片的设计、生产及测试影响了IC的生产周期,进而影响了相关产品迭代的周期。在消费电子产品更新换代如此迅捷的今天,任何环节的延误都可能导致产品销售惨淡,企业亏损。众所周知,所有的芯片都要经过测试环节,而所有可编程的芯片(如OTP,Flash等)都需要对IC进行烧录程序才能够让芯片实现相应的功能。

目前烧录程序大多数都是人工完成,而为了节省人力成本,一个操作员常常需要同时烧录多个IC。操作员同时操作多个烧录设备时,很容易出现人为的失误,比如某个烧录设备中已烧录完成的芯片忘记取走,或者某个烧录设备放入了芯片却忘记按下按键等。给芯片的烧录引入了很多人为的失误,影响了工作效率,进而影响产品的良率及备货周期,使得企业在竞争中有所掣肘,难以长远发展。

实用新型内容

为了克服上述现有技术存在的不足,本实用新型的主要目的在于提供一种检测并指示芯片是否烧录成功及芯片是否放置于烧录装置中的烧录装置。

本实用新型提供一种检测并指示芯片状态的烧录装置,目标芯片包括电源端口VDD、通讯端口P2和端口P0,且目标芯片内还包括寄生二极管D0,所述寄生二极管D0的负极接所述电源端口VDD,所述寄生二极管D0的正极接所述端口P0;所述烧录装置包括主控电路和指示电路;所述主控电路分别与目标芯片的电源端口VDD、端口P0、通讯端口P2及指示电路连接,用于对目标芯片进行烧录并检测目标芯片的状态;所述指示电路用于指示目标芯片的状态。

优选地,所述指示电路包括指示灯LA、指示灯LB0、指示灯LB1和指示灯LC;所述指示灯LA用于指示目标芯片是否放入烧录装置,所述指示灯LB0和指示灯LB1用于指示目标芯片是否烧录成功,所述指示灯LC用于指示目标芯片烧录成功后是否取出。

优选地,包括输入装置,所述输入装置用于向所述主控电路输入一个使烧录装置开始工作的触发信号。

优选地,所述指示电路包括指示灯LA、指示灯LB0、指示灯LB1和指示灯 LC;所述指示灯LA用于指示所述主控电路是否有触发信号的输入,所述指示灯LB0和指示灯LB1用于指示目标芯片是否烧录成功,所述指示灯LC用于指示目标芯片烧录成功后是否取出及目标芯片烧录成功且取出后,是否再次放入目标芯片。

优选地,所述主控电路设置有滤波模块,所述滤波模块用于对所述输入装置的触发信号进行过滤,使所述主控电路的输入信号处于预设的频率范围内。

优选地,所述主控电路包括控制芯片和外围电路,所述外围电路包括开关S0、电阻R0、电阻R1、电容C0和电源VPWR1;所述控制芯片的控制端口VCTL接开关S0的第三端,开关S0的第一端接电源VPWR1,开关S0的第二端接电阻 R0的一端、电容C0的一端及目标芯片的电源端口VDD,所述电阻R0、电容C0的另一端接地;所述控制芯片的检测端口P1接电阻R1的一端及目标芯片的端口P0,所述电阻R1的另一端接电源VPWR1;所述控制芯片的通讯端口P3接目标芯片的通讯端口P2;所述控制芯片的端口VPWR接电源VPWR1

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