[实用新型]一种集成电路直流测试探针基座有效
| 申请号： | 201621401921.X | 申请日： | 2016-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN206331003U | 公开（公告）日： | 2017-07-14 |
| 发明（设计）人： | 陈一峰 | 申请（专利权）人： | 成都海威华芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 成都华风专利事务所(普通合伙)51223 | 代理人： | 徐丰 |
| 地址： | 610029 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 直流 测试 探针 基座 | ||
【权利要求书】：
1.一种集成电路直流测试探针基座，其特征在于：包括探针台，所述探针台上设置有紫外光灯丝、紫外灯开关、紫外线照射胶带和探针基座，所述探针基座上设置有探针和探针控制钮。
2.根据权利要求1所述的集成电路直流测试探针基座，其特征在于：所述紫外线照射胶带为双面膜，厚度为0.1～2mm，设置于探针台上表面。
3.根据权利要求1所述的集成电路直流测试探针基座，其特征在于：所述紫外灯开关设置于探针台上一侧，位于紫外线照射胶带的上端。
4.根据权利要求1所述的集成电路直流测试探针基座，其特征在于：所述探针基座位于探针台的另一侧，紫外线照射胶带的上端。
5.根据权利要求1所述的集成电路直流测试探针基座，其特征在于：所述探针安装于探针基座的侧面，所述探针控制钮安装于探针基座的顶端。
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