[实用新型]整体式拨叉综合检具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种综合检具，尤其涉及一种整体式拨叉综合检具。

背景技术

拨叉是一款三维结构的整体式拨叉，客户图纸要求的很多尺寸为空间尺寸，测量难度大，手工测量误差较大，无法提升产品质量和装配精度，无法满足现有需求。

实用新型内容

本实用新型主要是解决现有技术中存在的不足，提供一种结构简单，进一步提高操作性能，提升产品质量的整体式拨叉综合检具。

本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：

一种整体式拨叉综合检具，包括机架和拨叉，所述的拨叉的上部与机架通过上固定组件定位，所述的拨叉的底部与机架通过下固定组件定位，所述的拨叉的一叉脚通过侧固定组件定位，所述的机架中设有滑动轴，所述的滑动轴的上端与拨叉上端间、滑动轴的下端与拨叉的下端间分别通过测量组件基准定位，所述的拨叉的另一叉脚通过机架中的位置插销组件进行定位，所述的机架中设有基准组件；

所述的上固定组件包括设在机架中的上固定座，所述的上固定座中设有滑动定位座，所述的滑动定位座与上固定座间设有定位导套，所述的滑动定位座的上部套有连接套，所述的滑动定位座的底部设有与拨叉上端相活动定位的A基准定位套；

所述的下固定组件包括与机架相固定的下固定座，所述的下固定座的上部 设有与拨叉底端相活动定位的B基准定位套；

所述的侧固定组件包括与机架相固定的C基准支座，所述的C基准支座的上部设有与拨叉相活动定位的C基准定位销，所述的C基准支座上端的外壁设有支撑座，所述的支撑座中设有推紧活块，所述的推紧活块的内端面设有与拨叉相活动贴合的C基准，所述的推紧活块外套有与支撑座相弹性连接的复位弹簧，所述的推紧活块的外端设有手柄；

所述的测量组件包括与滑动轴相套接的滑套，所述的滑套外设有V槽测量杆，所述的V槽测量杆中设有测量轴，所述的测量轴的外端与V槽测量杆间设有测量弹簧，所述的测量轴外端的底部设有与拨叉相活动定位的测量定位杆；

所述的位置插销组件包括位置度插销，所述的位置度插销与机架间设有插销定位导套，所述的位置度插销的外端设有插销手柄，所述的位置度插销的内端与拨叉相活动定位；

所述的基准组件包括上端面校零基准、上V槽校零基准、下端面校零基准、下V槽校零基准和叉脚校零基准，所述的上端面校零基准、上V槽校零基准、下端面校零基准、下V槽校零基准和叉脚校零基准分别与拨叉相匹配分布，所述的上端面校零基准的上部设有上端面对零点，所述的上V槽校零基准的上部设有上V槽对零点，所述的下端面校零基准的上部设有下端面对零点，所述的下V槽校零基准的上部设有下V槽对零点，所述的叉脚校零基准的上部设有叉脚对零点。

作为优选，所述的下固定座通过下定位销与机架相固定；所述的位置度插销的外端与机架外壁间通过挡盖相定位，所述的位置度插销外套有与挡盖相弹性连接的插销弹簧。

检具结构：

1、检具采用耐磨材料，并热处理，保证长期使用不易出现磨损；

2，各配合轴孔通过数控磨削精加工，保证尺寸精度；

3，整体装配后通过三坐标校核确认。

检具特点：

1、尺寸测量重复性好；

2、测量快速，效率高；

3、可实现关键、重要尺寸100％测量；

4、测量方法简单、易学。

因此，本实用新型的整体式拨叉综合检具，结构简单，提高使用性能，提升操作效率。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是图1中的A-A剖视结构示意图；

图3是图1中的B-B剖视结构示意图；

图4是本实用新型的基准组件结构示意图；

图5是图1中X向的结构示意图；

图6是图5中C-C剖视结构示意图。

具体实施方式

下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。

实施例1：如图1、图2、图3、图4、图5和图6所示，一种整体式拨叉综合检具，包括机架1和拨叉2，所述的拨叉2的上部与机架1通过上固定组件定位，所述的拨叉2的底部与机架1通过下固定组件定位，所述的拨叉2的一叉脚通过侧固定组件定位，所述的机架1中设有滑动轴3，所述的滑动轴3的上端与拨叉2上端间、滑动轴3的下端与拨叉2的下端间分别通过测量组件基准定位，所述的拨叉2的另一叉脚通过机架1中的位置插销组件进行定位，所述的机架1中设有基准组件；