[实用新型]用于快中子成像的探测系统有效
申请号: | 201621454180.1 | 申请日: | 2016-12-27 |
公开(公告)号: | CN206362944U | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | 李玉兰;付逸冬;李元景;于海军;常建平 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G01V5/00 | 分类号: | G01V5/00 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司11438 | 代理人: | 姜怡,袁礼君 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 快中子 成像 探测 系统 | ||
1.一种用于快中子成像的探测系统,其特征在于,包括:
探测器,用于使快中子入射到探测器中,从而所述快中子与所述探测器中1H原子核发生一次弹性散射,其中所述一次弹性散射产生散射中子和反冲质子,所述散射中子在探测器中发生二次作用,所述反冲质子在所述探测器灵敏介质中产生电子和阳离子,所述探测器包括时间投影室;
信号响应模块,用于获取所述电子在电场作用下到达预定位置的响应信号;
信号获取模块,用于通过所述响应信号,获取所述电子的漂移时间、坐标以及数量;
中子模块,用于获取所述散射中子的信息;以及
成像模块,用于通过所述散射中子的信息、所述电子的所述漂移时间、所述坐标以及所述数量,进行所述快中子的成像。
2.如权利要求1所述的探测系统,其特征在于,所述中子模块,包括:
中子信息子模块,用于通过所述探测器获取的所述一次弹性散射和所述二次作用发生的位置、沉积的能量,进而获取所述散射中子的信息。
3.如权利要求1所述的探测系统,其特征在于,所述成像模块还包括:
拟合子模块,用于通过所述电子的所述漂移时间与所述坐标,获得所述反冲质子的运动方向。
4.如权利要求1所述的探测系统,其特征在于,所述成像模块还包括:
质量子模块,用于通过所述电子的所述数量获取所述反冲质子的能量。
5.如权利要求1所述的探测系统,其特征在于,所述时间投影室包括:中子转换体。
6.如权利要求1所述的探测系统,其特征在于,所述时间投影室包括:多层中子转换体阵列。
7.如权利要求1所述的探测系统,其特征在于,所述探测器还包括:闪烁体阵列。
8.如权利要求1所述的探测系统,其特征在于,所述探测器还包括:塑料光纤。
9.如权利要求1所述的探测系统,其特征在于,还包括:
第一信息模块,用于在所述快中子与所述1H原子核在所述探测器中产生一次弹性散射情况下,通过获取第一预定数量的所述一次弹性散射事例进行所述快中子成像。
10.如权利要求1所述的探测系统,其特征在于,还包括:
第二信息模块,用于在所述快中子与所述1H原子核在所述探测器中产生二次作用情况下,通过获取第二预定数量的所述二次作用事例进行所述快中子成像。
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