[实用新型]一种集成电路保护装置和集成电路

说明书

技术领域

本公开通常涉及电子电路，以及，更具体地，涉及保护集成电路免于由激光攻击的错误注入(fault injection)。

背景技术

在许多实用新型中，电子电路操纵称为密码的数据，即，期望对其的访问保留在特定用户或电路中。

存在称为攻击的很多方法，以试图发现或盗取密码数据。在这些攻击中，所谓的错误注入攻击(fault injection attack)包括通过在操作的一个或多个位上作用来扰乱电路操作。错误注入攻击的种类，更具体地，本实用新型的目标是激光攻击，其包括在电路的逻辑器件上指明激光束，以转换这些元件处理的位。通过由电路提供的数据的直接检查，或通过经由执行侧信道攻击(side channel attack)的间接检查，来检查电路性能上这样攻击的结果，可以使得攻击者发现密码。

激光攻击通常在包括侵蚀基板的处理后，从集成电路的后表面执行攻击。

为了反击这种类型的攻击，集成电路通常装备以引线框架(网)或光电流或电流检测器的形式的检测器。检测器的其他分类，更具体地，本实用新型的目标的检测器包括沉积触发器(flip-flop)型逻辑元件，该沉积触发器(flip-flop)型逻辑元件具有用以检查表示附带或特意侵入的状态转换的唯一作用。

需要改进对抗激光攻击的集成电路的保护。

实用新型内容

实施例克服了对抗激光攻击保护的通用技术的全部或部分问题。

实施例提供了特别适用集中在电路特定区域的激光攻击的方案。

实施例提供用以在所操作的机密数据而言关键元件上发生攻击之前检测激光攻击的方案。

因此，实施例提供了集成电路保护装置，包括：

以矩阵阵列分布的辐射检测元件(42)的组；

逻辑门，组合行和列中的检测元件的输出，每个检测元件的输出连接到组合行的门和连接到组合列的门；以及

电路，用于解释由所述逻辑门提供的信号，并且包括事件计数器和延迟元件。

根据实施例，所述电路包括逻辑状态机，逻辑状态机具有单独连接到所述门的输出的输入。

根据实施例，在由检测元件检测事件的存在的情况下，所述状态机激活延迟元件和增加所述计数器。

根据实施例，在由检测元件检测事件的存在的情况下，当计数器处于初始值时，所述状态机增加所述计数器。

根据实施例，在由检测元件检测事件的存在的情况下，当延迟元件激活时，如果当前事件和之前事件发生的位置之间的间隔比给定的距离短，所述状态机增加所述计数器。

根据实施例，所述计数器在延迟结束时重置。

根据实施例，检测元件是触发器。

根据实施例，逻辑门是或型门。

实施例提供包括保护设备的集成电路。

在下面的结合附图的专门实施例的非限制性说明书中，详细讨论前述的和其他的特征和优势。

附图说明

图1是说明现有状态和将解决的问题的集成电路的简化后视图；

图2示意性和部分地示出激光攻击检测结构的实施例；

图3示意性地示出装备激光攻击检测结构的实施例中的集成电路；

图4示意性地示出以模块形式的电路实施例，该电路用于解释由图2的结构提供的信号；

图5、6和7以简图示出集成电路实施例，其在不同激光攻击模式存在时的操作；以及

图8示意性和部分地示出激光攻击检测结构的变型。

具体实施方式

在不同图中，相同元件用相同参考数字标识。具体地，不同实施例共有的结构和/或功能元件可以以相同的参考数字标识，并且具有同样的结构、尺寸和材料性能。为了清楚，仅示出了这些对于理解表述的实施例有帮助的步骤和元件，并且以下将详细描述。具体地，没有详细描述期望被保护的功能，该期望被保护的功能是他们实际数据或执行的算法，或者电子电路执行他们的功能，描述的实施例与通常应用是一致的。

图1是图示说明现有状态和将解决的问题的集成电路1的简化后视图。图1表示是非常简化的并且仅部分示出电路。

电路1装备有规律地分布在其表面的错误检测器2，至少在操作数据的安全方面的关键区域上。每个检测器2是触发器，例如，具有会通过从后表面的辐射到达而改变状态的D触发器。所有触发器连接到分析电路，其触发一个防范措施，例如，电路的重置，用以最微小的检测的干扰。

这种类型检测器的植入，需要占用电路1的空间，并且因此他们分布的距离依赖于期望的检测准确度。