[发明专利]手持姿势检测方法、电容触控装置以及电子设备

权利要求书

1.一种手持姿势检测方法，其特征在于，包括：

获取电容阵列网络中每一个耦合电容在被触摸时输出的特征数据，以及每一个耦合电容对应的基准特征数据；

根据每一个耦合电容输出的特征数据与每一个耦合电容对应的基准特征数据进行比对，确定特征数据差值；如所述特征数据差值大于第一阈值，则统计大于所述第一阈值的耦合电容的位置，以确定特征区域；

确定所述特征区域内的特征数据差值大于所述第一阈值的不同耦合电容输出的特征数据中的最大值、以及其他特征数据的值与所述最大值之间的差的绝对值；

计算所述绝对值的平均值，将所述平均值与预先设定的第二阈值相比，确定变化趋势，其中，如果所述平均值大于所述第二阈值，则确定手指触控，如果所述平均值小于所述第二阈值，则确定手掌触控；

根据所述变化趋势，确定手持姿势。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每一个耦合电容输出的特征数据与每一个耦合电容对应的基准特征数据进行比对，确定特征数据差值，包括：根据每一个耦合电容输出的平均特征数据与各自对应的特征数据基准进行比对，确定平均特征数据差值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：如果仅有一个特征区域且该特征区域对应左侧起的特征数据，则所述手持姿势为左手握持状态；如果仅有一个分立的特征区域且该分立的特征区域对应右侧起的特征数据，则所述手持姿势为右手握持状态。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：如果有多个分立的特征区域且该多个分立的特征区域相互独立并对应右侧起的特征数据，则所述手持姿势为左手握持状态；如果有多个分立的特征区域且该多个分立的特征区域相互独立并对应左侧起的特征数据，则所述手持姿势为右手握持状态。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：计算所述特征区域的个数，如仅有一个特征区域且该特征区域对应左侧起的特征数据且为三角形形状，则所述手持姿势为左手握持状态；如仅有一个特征区域且该特征区域对应右侧起的特征数据且为三角形形状，则所述手持姿势为右手握持状态。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述电容阵列网络为自电容阵列网络，所述耦合电容为自电容；或者，所述电容阵列网络为互电容阵列网络，所述耦合电容为互电容。

7.一种电容触控装置，其特征在于，包括：处理器以及电容阵列网络，所述处理器用于：获取电容阵列网络中每一个耦合电容在被触摸时输出的特征数据，以及每一个耦合电容对应的基准特征数据；

根据每一个耦合电容输出的特征数据与每一个耦合电容对应的基准特征数据进行比对，确定特征数据差值；如所述特征数据差值大于第一阈值，则统计大于所述第一阈值的耦合电容的位置，以确定特征区域；

确定所述特征区域内的特征数据差值大于所述第一阈值的不同耦合电容输出的特征数据中的最大值、以及其他特征数据的值与所述最大值之间的差的绝对值；计算所述绝对值的平均值，将所述平均值与预先设定的第二阈值相比，确定变化趋势，其中，如果所述平均值大于所述第二阈值，则确定手指触控，如果所述平均值小于所述第二阈值，则确定手掌触控；

根据所述变化趋势，确定手持姿势。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述处理器进一步用于：根据每一个耦合电容输出的平均特征数据与各自对应的特征数据基准进行比对，确定平均特征数据差值。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述处理器还用于如果仅有一个特征区域且该特征区域对应左侧起的特征数据，则所述手持姿势为左手握持状态；如果仅有一个分立的特征区域且该分立的特征区域对应右侧起的特征数据，则所述手持姿势为右手握持状态。