[发明专利]位置检测系统以及引导系统有效

专利信息
申请号: 201680003439.7 申请日: 2016-03-29
公开(公告)号: CN106999004B 公开(公告)日: 2018-11-20
发明(设计)人: 铃木优辅 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: A61B1/00 分类号: A61B1/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 位置 检测 系统 以及 引导
【权利要求书】:

1.一种位置检测系统,其特征在于,具备:

向被检体内导入的探测体,其内部设置有用于产生位置检测用磁场的磁场产生部;

多个检测线圈,其配置在所述被检体的外部,检测所述位置检测用磁场来分别输出多个检测信号;

磁场校正部,其使用通过所述位置检测用磁场的作用而由金属板产生的磁场,来对从所述多个检测线圈分别输出的所述多个检测信号的测定值进行校正,其中,所述金属板配置在相对于所述多个检测线圈与所述探测体的检测对象区域相反的一侧且至少覆盖所述多个检测线圈的开口面的范围内;以及

位置计算部,其使用由所述磁场校正部校正后的所述多个检测信号的测定值,来计算所述探测体的位置和方向中的至少一方。

2.根据权利要求1所述的位置检测系统,其特征在于,

还具备磁场产生构件,该磁场产生构件能够通过所述位置检测用磁场的作用来产生磁场,

所述磁场产生构件是用于载置所述被检体的床的金属制的框架,

所述金属板配置在所述磁场产生构件与所述多个检测线圈之间且至少覆盖所述多个检测线圈的开口面的范围内。

3.根据权利要求1所述的位置检测系统,其特征在于,

在假设所述探测体存在于相对于所述金属板与所述探测体的最新的位置对称的位置的情况下,所述磁场校正部计算由该对称的位置的所述探测体产生的磁场在所述多个检测线圈中的各个检测线圈的位置的检测信号的值来作为校正成分,

所述磁场校正部通过从所述多个检测信号的测定值分别减去所述校正成分来进行校正。

4.根据权利要求3所述的位置检测系统,其特征在于,

所述位置计算部计算评价值,更新所述探测体的位置和方向中的至少一方以使该评价值变小,其中,该评价值是基于紧挨着计算该评价值之前计算出的被估计为在所述探测体的位置由所述探测体产生的所述位置检测用磁场的理论值与由所述磁场校正部校正后的所述多个检测信号的测定值之差的值。

5.根据权利要求1所述的位置检测系统,其特征在于,

所述探测体是具备摄像部的胶囊型内窥镜,该摄像部通过拍摄所述被检体内来生成图像信号。

6.一种引导系统,其特征在于,

具备根据权利要求1所述的位置检测系统,

由向被检体内导入的探测体的磁场产生部产生的位置检测用磁场是规定频率的交变磁场,

在所述探测体的内部还设置有永磁体,

所述引导系统还具备引导装置,该引导装置通过产生作用于所述永磁体的磁场来引导所述探测体。

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