[发明专利]存储介质位置检测系统及程序

说明书

一种存储介质位置检测系统具有：对应存储介质的通信部(201)，其与存储介质(300)进行使用规定频率的电波的无线通信；相位检测部(103)，其检测从所述存储介质接收的信号的相位；参数获取部(231)，作为用于检测从第1位置到所述存储介质的存储介质距离的距离检测参数，获取根据所述第1位置和第2位置的位置关系而确定的规定值，所述第1位置是在天线的位置范围中与所述存储介质的距离为最短的天线的位置，所述第2位置是在所述天线的位置范围中与所述第1位置不同的天线的位置；以及位置检测部(232)，其利用在所述第1位置由所述相位检测部检测的第1相位、在所述第2位置由所述相位检测部检测的第2相位、和由所述参数获取部获取到的距离检测参数来检测所述存储介质距离，所述位置检测部将根据天线的移动由所述相位检测部检测的相位的变化的斜率进行了反转的定时确定为所述第1位置。

技术领域

本发明涉及存储介质位置检测系统及程序。本申请针对2015年10月16日在日本申请的特愿2015-216099号要求优先权，在此引用其内容。

背景技术

关于RFID(Radio Frequency Identification：无线射频识别)标签的位置检测，已知有如下技术，使用根据用户使RFID标签相应的读取器移动而得到的多个标签信号的相位，确定RFID标签所处的方位(例如，参照专利文献1)。

然而，在上述的技术中，虽然能够对RFID标签所处的方位进行检测，但是没有对到RFID标签的距离进行检测。

因此，已知有如以下那样对到RIFD标签的距离进行检测的技术。读取器使用具有不同基本频率的多个信号向RFID标签发送多个信号。RFID标签响应上述信号的发送，对多个信号进行反向散射调制。读取器确定从RFID标签接收到的反向散射调制信号的多个相位，并确定相对于发送的信号的基本频率的变化率的反向散射调制信号的相位的变化率。然后，读取器利用已确定的相位的变化率的信息来计算到RFID标签的距离(例如，参照专利文献2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：欧洲专利申请公开第2779020号说明书

专利文献2：美国专利第7119738号说明书

发明内容

发明要解决的课题

然而，在专利文献2所述的技术中，为了获得针对距离的高检测精度，需要对读取器和RFID标签之间收发的多个信号确保充分的频率差。然而，在RFID标签的通信中所确定的频带存在限制。因此，在现实中难以对读取器和RFID标签之间收发的多个信号确保充分的频率差，也难以提高距离的检测精度。

此外，虽然已知也有根据被读取器接收的来自RFID标签的信号的强度来检测距离的方法，但是采用该方法检测的距离的精度也不能说足够高。

本发明是鉴于这样的情况而完成的，其目的在于提供一种能够以高精度检测存储介质的距离的存储介质位置检测系统和程序。

用于解决课题的方案

为了解决上述课题，本发明的一个方式是一种存储介质位置检测系统，其具有：对应存储介质的通信部，其与存储介质进行使用规定频率的电波的无线通信；相位检测部，其检测从所述存储介质接收的信号的相位；参数获取部，作为用于检测从第1位置到所述存储介质的存储介质距离的距离检测参数，获取根据所述第1位置和第2位置的位置关系而确定的规定值，所述第1位置是在天线的位置范围中与所述存储介质的距离为最短的天线的位置，所述第2位置是在所述天线的位置范围中与所述第1位置不同的天线的位置；以及

位置检测部，其利用在所述第1位置由所述相位检测部检测的第1相位、在所述第2位置由所述相位检测部检测的第2相位、和由所述参数获取部获取到的距离检测参数来检测所述存储介质距离，所述位置检测部将根据天线的移动由所述相位检测部检测的相位的变化的斜率进行了反转的定时确定为所述第1位置。