[发明专利]用于检测中空主体的测试系统和方法在审
申请号: | 201680004274.5 | 申请日: | 2016-01-15 |
公开(公告)号: | CN107110646A | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | 格哈德·奥夫施拉格尔;沃尔夫冈·乌尔里希;弗洛里安·巴德;马克·凯斯廷;拉尔夫·沃尔英格 | 申请(专利权)人: | 斯图姆机械装备制造有限公司 |
主分类号: | G01B21/14 | 分类号: | G01B21/14;G01B5/00 |
代理公司: | 北京聿华联合知识产权代理有限公司11611 | 代理人: | 刘华联 |
地址: | 德国萨*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 中空 主体 测试 系统 方法 | ||
1.用于检测中空主体(1)、尤其是其中有气缸孔(2)的发动机缸体(1)的测试系统,具有
测量装置(10),所述测量装置(10)包括延长体(12)以及与所述延长体(12)相连的多个传感器(15,16),所述多个传感器(15,16)适于进行距离测量,
电子控制机构,所述电子控制机构适于将所述测量装置(10)移动到要被检测的中空主体(1)内,并在所述传感器(15,16)的距离测量数据的基础上确定所述中空主体(1)的内径,
其特征在于,
为了检测不同直径的中空主体(1),至少一部分传感器(15,16)被设计成能移动的传感器(15,16),所述能移动的传感器(15,16)为光学传感器(15,16),并能相对于测量装置(10)的延长体(12)至少在径向方向上移动,
根据要被检测的中空主体(1),所述电子控制机构适于选择所述能移动的光学传感器(15,16)相对于所述延长体(12)的测量位置,
设置有校准站(30),以及
所述电子控制机构适于在所述校准站(30)处对所述能移动的传感器(15,16)进行校准过程,其中为了校准测量,所述光学传感器(15,16)移动到相对于所述延长体(12)的参考测量位置处。
2.根据权利要求1所述的测试系统,
其特征在于,
在所述校准过程中,
所述测量装置(10)移动到所述校准站(30)处,
所述能移动的传感器(15,16)移动到相对于所述延长体(12)为特定的参考测量位置处,
在所述能移动的传感器(15,16)处于所述参考测量位置处时,进行参考测量,通过所述参考测量来测量到所述校准站(30)的距离,
确定并存储所述校准站(30)的已知的尺寸和所述参考测量的测量数据之间的关系,并且
所述电子控制机构适于在考虑所确定的关系的情况下、基于所述传感器(15,16)的距离测量数据来确定要被检测的中空主体(1)的内径。
3.根据权利要求1或2所述的测试系统,
其特征在于,
所述电子控制机构适于至少每次测量具有与之前的中空主体(1)不同的测量位置的下一中空主体(1)时进行校准过程。
4.根据权利要求1到3中任一项所述的测试系统,
其特征在于,
所述校准站(30)包括至少一个参考环(31,32,33),所述测量装置(10)能移动到所述参考环内。
5.根据权利要求4所述的测试系统,
其特征在于,
所述校准站(30)包括多个参考环(31,32,33),各自参考环的内径不同。
6.根据权利要求5所述的测试系统,
其特征在于,
所述多个参考环(31,32,33)同心地叠设在一起。
7.根据权利要求5或6所述的测试系统,
其特征在于,
所述电子控制机构适于根据要被检测的中空主体(1)的所预期的内径来选择所述参考环(31,32,33)中的一个。
8.根据权利要求1到7中任一项所述的测试系统,
其特征在于,
所述能移动的传感器(15,16)的所述参考测量位置与在进行校准过程之后检测中空主体(1)的测量位置相同。
9.根据权利要求1到8中任一项所述的测试系统,
其特征在于,
所述能移动的传感器(15,16)能相对于所述延长体(12)在径向方向上调节。
10.根据权利要求1到9中任一项所述的测试系统,
其特征在于,
所述能移动的传感器(15,16)包括至少三个传感器(15,16),所述至少三个传感器(15,16)的测量方向在方位角方向上彼此偏离。
11.根据权利要求1到10中任一项所述的测试系统,
其特征在于,
所述电子控制机构适于通过考虑要被检测的所述中空主体(1)的所预期的内径来设置测量位置,所述能移动的传感器(15,16)能移动到所述测量位置中以进行距离测量。
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