[发明专利]图像取得装置以及图像取得方法有效

专利信息
申请号: 201680006332.8 申请日: 2016-01-12
公开(公告)号: CN107209359B 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 松本直也;渡边向阳 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G02B21/06 分类号: G02B21/06;G01N21/64;G02B26/10;G02F1/01
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 图像 取得 装置 以及 方法
【说明书】:

一种图像取得装置,具备:空间光调制器,调制照射光;控制部,以在观察对象物形成第1聚光点以及第2聚光点的方式控制调制图案;聚光光学系统,对上述照射光进行聚光;扫描部,在与上述聚光光学系统的光轴相交叉的扫描方向上扫描上述第1以及第2聚光点的位置;光检测器,检测从上述第1聚光点产生的第1观察光以及从上述第2聚光点产生的第2观察光;上述光检测器具有用于检测上述第1观察光的第1检测区域、用于检测上述第2观察光的第2检测区域,上述光轴的方向上的上述第1聚光点以及第2聚光点的位置互相不同。

技术领域

本发明的一个方面涉及图像取得装置以及图像取得方法。

背景技术

专利文献1公开了使用了空间光调制器(Spatial LightModulator:SLM)的多光子吸收显微镜。该显微镜企图通过使用SLM并形成多个激发光光点(spot)来进行扫描,从而高速而且鲜明地取得观察对象物内的荧光图像。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本专利申请公开2012-226268号公报

非专利文献

非专利文献1:Wan Qin,Yonghong Shao,Honghai Liu,Xiang Peng,Hanben Niu,and Bruce Gao,“Addressable discrete-line-scanning multiphoton microscopybased on a spatial light modulator”,OPTICS LETTERS,Vol.37,No.5,pp.827-829,March 1,2012

发明内容

发明所要解决的技术问题

近年来,研究使用SLM来调制被照射于观察对象物的激发光或照明光等的光的技术。根据这样的技术,相对于观察对象物能够实现各种各样的照射光、例如具有平坦的强度分布的光或同时被照射于多个位置(光点)的光等。

在这样的技术中在将光同时照射于多个位置的情况下,在相对于照射光的光轴方向垂直的面内照射聚光位置不同的多个光点光的情况存在(例如参照非专利文献1),但是在与光轴方向相平行的方向上、即在观察对象物的深度方向上同时照射聚光位置不同的多个光点光的技术至今为止完全没有被公开。如果能够在深度方向上使聚光位置不同的话则因为能够同时观察深度不同的多个部位,所以在观察对象物厚的情况等下能够缩短观察时间,另外具有能够取得深度不同的多个部位的同时刻的状况等的显著的优点。

本发明的一个方面的目的在于,提供一种能够在观察对象物的深度方向上同时照射聚光位置互相不同的多个光的图像取得装置以及图像取得方法。

解决问题的技术手段

本发明的一个实施方式的图像取得装置是一种取得观察对象物的图像的装置,具备:空间光调制器,调制从光源输出的照射光;控制部,以在观察对象物中形成第1聚光点以及第2聚光点的方式控制被呈现于空间光调制器的调制图案;聚光光学系统,为了将第1聚光点以及第2聚光点形成于观察对象物中而对被调制的照射光进行聚光;扫描部,在与聚光光学系统的光轴相交叉的扫描方向上扫描观察对象物中的第1聚光点以及第2聚光点的位置;光检测器,检测从第1聚光点产生的第1观察光以及从第2聚光点产生的第2观察光;图像制作部,使用来自光检测器的检测信号来制作观察对象物的图像。光检测器具有用于检测第1观察光的第1检测区域、用于检测第2观察光的第2检测区域。聚光光学系统的光轴的方向上的第1聚光点以及第2聚光点的位置互相不同。

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