[发明专利]测试装置

说明书

本发明揭示一种用于测试物件的电性质的测试装置。测试装置包含：物件支撑单元，被设置以用于支撑物件；罩盖单元，包含耦接至物件支撑单元的罩盖主体，以及由罩盖主体支撑以便朝向与远离物件移动的推动器；以及压力调整器，包含：在接触推动器的同时可旋转地设置于罩盖主体中且具有多级接触按压部分的多级调整凸轮，多级接触按压部分的接触半径取决于旋转角而变化，使得推动器可处于后移位置中且被定位成与罩盖主体相隔多种按压距离；以及操作多级调整凸轮的操作单元。

技术领域

符合例示性实施例的设备以及方法涉及一种用于测试诸如半导体的电子组件的测试装置，且更特定言之，涉及一种具有用于按压电子组件以检验电性质的推动器(pusher)的预烧插口(burn-in socket)。

背景技术

在制造诸如积体电路(integrated circuit；IC)的电子组件的程序中，需要测试装置来检验最终制造的电子组件。此类测试装置使用预烧插口以用于在高温条件下测试电子组件。

预烧插口包含具有用以容纳待测试电子组件的容纳部分的插入件，以及与插入件进行铰链连接以敞开/闭合容纳部分的罩盖。罩盖包含用于在测试容纳于插入件中的电子组件时选择性地按压测试组件的推动器，以及用于在高温条件下测试电子组件时提供冷却效应的热耗散构件(heat-dissipation member)。

因为预烧插口包含用于按压电子组件的推动器以及用于耗散热的热耗散构件，所以存在按压机构非常复杂且制造成本高的问题。

发明内容

技术问题

一或多个例示性实施例可提供一种具有简单结构且以低成本而制造的测试装置。

另一例示性实施例可提供一种能够容易地测试各种电子产品而不改变测试装置的测试装置。

又一例示性实施例可提供一种具有改良式寿命的测试装置。

再一例示性实施例可提供一种能够测试对应于各种厚度的物件的测试装置。

解决技术的方法

根据第一例示性实施例的方式，提供一种用于测试物件的电性质的测试装置，包含：物件支撑单元(object support unit)，被设置以用于支撑物件；罩盖单元(coverunit)，包含耦接至物件支撑单元的罩盖主体(cover body)，以及由罩盖主体支撑以便朝向与远离物件移动的推动器；以及压力调整器(pressure adjuster)，包含：在接触推动器的同时可旋转地设置于罩盖主体中且具有多级接触按压部分(multi-stagecontactpressingpotion)的多级调整凸轮(multi-stage adjusting cam)，多级接触按压部分的接触半径取决于旋转角而变化，使得推动器可处于后移位置(moving-back position)中且被定位成与罩盖主体相隔多种按压距离(pressing distance)；以及操作多级调整凸轮的操作单元(operation unit)。

多级调整凸轮可通过铰链而耦接至罩盖主体，且多级接触按压部分可包含在铰链的半径方向上形成于外部表面上的多个扁平表面。

罩盖单元可包括将推动器弹性地支撑为与罩盖主体相抵的弹簧。

测试装置可还包括在推动器与多级调整凸轮之间的托盘构件(tray member)。

托盘构件可为可拆卸的。

发明功效

根据本发明的一种测试装置能够容易地测试各种电子产品而不改变测试装置。

所述测试装置可以通过改进推动器的操作机构而以简单的结构设计并以低成本制造。

附图说明