[发明专利]集光系统及其制造和使用方法有效
申请号: | 201680009775.2 | 申请日: | 2016-02-25 |
公开(公告)号: | CN107250762B | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 格里特·简·文登恩;布瑞恩·韦迪;维罗妮卡·劳伦·克斯滕 | 申请(专利权)人: | 贝克顿·迪金森公司 |
主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 任静;许伟群 |
地址: | 美国新*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 系统 及其 制造 使用方法 | ||
1.一种集光系统,包括:
具有近端和远端的安装件,该安装件包括:
在所述安装件的近端处的用于从光源接收光的孔;
适配器,该适配器位于所述安装件上用于联接相机;以及
第一紧固件,该第一紧固件用于将透镜附接至该安装件的远端;
第一对准器,其位于所述安装件的远端处;以及
连接器,该连接器具有近端和远端,其中所述连接器的近端被配置成有待联接至所述安装件的远端,并且所述连接器的远端被配置成有待联接至孔板上,该连接器包括:
第二对准器,该第二对准器使所述连接器的近端与所述安装件的远端对准;以及
第二紧固件,该第二紧固件使所述连接器的近端与所述安装件的远端可释放地联接,并且维持所述安装件的近端和远端、所述连接器的近端和远端、以及所述孔板之间的光学对准。
2.根据权利要求1所述的集光系统,进一步包括被定位在该连接器的远端处的孔板。
3.根据权利要求2所述的集光系统,其中,该孔板被配置成有待可释放地附接至该连接器。
4.根据权利要求2所述的集光系统,其中,该孔板包括针孔镜。
5.根据权利要求2所述的集光系统,其中,该孔板包括5个或更多个孔。
6.根据权利要求2所述的集光系统,其中,该孔板包括狭缝。
7.根据权利要求2所述的集光系统,进一步包括光学聚集部件。
8.根据权利要求7所述的集光系统,其中,该孔板被配置成利用紧固件而有待可释放地附接至该光学聚集部件。
9.根据权利要求1所述的集光系统,其中,该对准器是选自下组的对准部件,该组由以下各项构成:突起、暗榫、凹槽、凹口、埋头孔、沉孔、以及孔洞。
10.根据权利要求1所述的集光系统,其中,该第一紧固件和该第二紧固件独立选自下组,该组由以下各项构成:磁体、闩锁、铰链、系链、钩环紧固件、以及螺纹。
11.一种光学对准的集光系统,包括:
自由空间光中继系统或光纤束;以及
根据权利要求1至10中任一项所述的集光系统。
12.一种用于组装集光系统的方法,包括:
将孔板附接至根据权利要求1至10中的任一项所述的集光系统的连接器的远端上;并且
利用紧固件将光学聚集系统联接至该连接器的远端上,
其中将该第一对准器连接至该第二对准器上就足以将该安装件和孔板与该光学聚集系统光学地对准。
13.一种用于对来自流动流中的样本的光进行测量的系统,包括:
光源;
根据权利要求1至10中任一项所述的集光系统;以及
检测器,该检测器用于测量来自该集光系统的一个或多个波长的光。
14.一种用于对来自流动流中的样本的光进行测量的方法,包括:
使用光源来照射在探询场中的流动流中的样本;
通过根据权利要求1至10中任一项所述的集光系统来聚集由所述流动流中的所述样本所发射的光;并且
以一个或多个波长对所聚集的光进行测量。
15.一种用于集光系统的套件,包括:
根据权利要求1至10中的任一项所述的集光系统;以及
两个或更多个孔板。
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