[发明专利]眼镜佩戴参数测量装置、眼镜佩戴参数测量程序及位置指定方法

说明书

一种眼镜佩戴参数测量装置(1)，其在对佩戴眼镜镜架的受检者的眼镜佩戴参数进行测量时使用，其构成为具有：信息处理部(15)，其分别取得作为所述受检者在佩戴眼镜镜架状态下的脸部图像的第1图像和作为未佩戴眼镜镜架状态下的脸部图像的第2图像，准备将所述第1图像和所述第2图像进行了关联的第3图像；显示画面部(12)，其对所述信息处理部(15)准备的所述第3图像进行显示；操作部(12a)，其在所述显示画面部(12)显示的所述第3图像上进行所述眼镜佩戴参数的测量基准点的指定；以及测量运算单元(15e)，其使用所指定的所述基准点的数据来计算眼镜佩戴参数。

技术领域

本发明涉及在对眼镜佩戴参数进行测量时所使用的眼镜佩戴参数测量装置、眼镜佩戴参数测量程序及位置指定方法。

背景技术

通常，在眼镜镜片的制造中，需要在眼镜佩戴者佩戴了眼镜镜架的状态下测量的眼镜佩戴参数。作为眼镜佩戴参数，已知有角膜顶点间距离、镜架前倾角、配适点位置、瞳孔间距离、镜架镜面角等。

眼镜佩戴参数的测量是使用专用的测量装置来进行的。作为专用的测量装置，例如有以如下方式构成的测量装置：对佩戴了眼镜镜架的状态下的受检者的脸部进行拍摄，基于作为该拍摄结果的脸部图像来运算并求出各种眼镜佩戴参数(例如，参照专利文献1)。具体而言，在专利文献1所公开的测量装置中，在画面上显示受检者的脸部的拍摄结果，在该画面上利用光标标记等的同时，对作为测量的基准的点(例如，受检者的角膜顶点、眼镜镜架前框等)进行指定，然后基于该测量基准点在画面上的位置来运算并求出角膜顶点间距离、镜架前倾角等眼镜佩戴参数(例如，参照专利文献1第“0033”～“0035”段的记载)。

然而，为了使眼镜佩戴者的眼睛的位置与眼镜镜片之间的相对位置变化，也有对眼镜镜架的镜腿设置变形机构的情况。在该情况下，在眼镜镜架中镜腿宽度变宽(例如，参照专利文献2的图1A、图2～3)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第3976925号公报；

专利文献2：日本特开2014-513328号公报。

发明内容

发明要解决的课题

如上所述，眼镜佩戴参数的测量基于画面上的测量基准点的位置来进行。即，为了进行眼镜佩戴参数的测量，在显示受检者的脸部图像的画面上指定测量基准点的位置是不可欠缺的处理。因此，测量基准点的位置指定最好是能够简单地进行。此外，由于测量基准点的位置会直接影响到眼镜佩戴参数的测量结果，因此要求高精度地进行该指定。例如，如果是对角膜顶点间距离进行测量的情况，则需要测量基准点的位置与受检者的角膜顶点等正确地匹配。

然而，在现有技术中，由于以下所述的理由导致未必能够简单且高精度地进行测量基准点的位置指定。

测量基准点的位置指定是在显示受检者的脸部图像的画面上进行的。例如，如果是作为眼镜佩戴参数而测量角膜顶点间距离的情况，则在对受检者的脸部侧面进行拍摄而获得的脸部图像上，将该受检者的角膜顶点的位置指定为测量基准点之一。

然而，在眼镜佩戴参数的测量和用于该测量的测量基准点的位置指定中使用的图像是对在佩戴了眼镜镜架的状态下的受检者的脸部进行拍摄而获得的图像。因此，根据受检者佩戴的眼镜镜架的形状，在受检者脸部会产生难以看清的部位，要指定的测量基准点的位置有可能变得不明确。具体而言，例如，塑料类材料的眼镜镜架还存在镜腿宽度大的情况，有可能发生在脸部图像上受检者的角膜顶点被眼镜镜架的镜腿遮挡的情况。在像这样的情况下，不能简单地进行测量基准点的位置指定，此外，指定后的测量基准点的位置有可能不能确保所需要的充分的位置精度。