[发明专利]沸石膜结构体及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201680011593.9 申请日: 2016-03-22
公开(公告)号: CN107427782B 公开(公告)日: 2020-06-23
发明(设计)人: 长坂龙二郎;铃木秀之;市川明昌;中村真二 申请(专利权)人: 日本碍子株式会社
主分类号: B01D71/02 分类号: B01D71/02;B01D69/00;B01D69/10;B01D69/12;C01B39/48;C04B41/85
代理公司: 北京旭知行专利代理事务所(普通合伙) 11432 代理人: 王轶;郑雪娜
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 膜结构 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种沸石膜结构体,其包括:

多孔质支撑体和沸石膜,

所述沸石膜具有:

第一沸石层,该第一沸石层配置于所述多孔质支撑体的表面的内侧,和

第二沸石层,该第二沸石层配置于所述多孔质支撑体的所述表面的外侧,且与所述第一沸石层一体形成,

所述多孔质支撑体具有配置所述第一沸石层的最表层,

所述第一沸石层的平均厚度为5.4μm以下,

利用细孔径分布测定装置测定的所述最表层的体积累积细孔径分布中的50%直径为0.050μm~0.150μm。

2.根据权利要求1所述的沸石膜结构体,其中,

所述第一沸石层的平均厚度相对于所述第二沸石层的平均厚度的比值为2.0以下。

3.根据权利要求1或2所述的沸石膜结构体,其中,

所述第一沸石层的平均厚度为2.5μm以下。

4.一种沸石膜结构体的制造方法,其包括:

将含有沸石晶种的晶种引入用浆料涂布于多孔质支撑体的表面的工序,和

使所述沸石晶种结晶生长的工序,

利用激光衍射散射法测定的所述沸石晶种的体积累积粒度分布中的10%粒径相对于利用细孔径分布测定装置测定的所述多孔质支撑体的体积累积细孔径分布中的90%直径的比值为0.5以上,

利用细孔径分布测定装置测定的所述多孔质支撑体的体积累积细孔径分布中的90%直径为0.050μm~0.180μm。

5.根据权利要求4所述的沸石膜结构体的制造方法,其中,

所述沸石晶种的所述10%粒径相对于所述多孔质支撑体的所述90%直径的比值为1.3以上,

所述多孔质支撑体的所述90%直径为0.080μm以下。

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