[发明专利]自动分析装置有效

专利信息
申请号: 201680012665.1 申请日: 2016-02-01
公开(公告)号: CN107250806B 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: 西村浩一;高山洋行 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N35/10 分类号: G01N35/10;G01N35/02
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 范胜杰;赵宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 自动 分析 装置
【说明书】:

提供一种能够抑制随着插入机构的劣化的分注异常或分析结果异常的发生,并且能够进行插入机构的更换的自动分析装置。具备:插入机构,其贯通封闭的容器的盖而插入于该容器中;存储部,其存储与因所述插入机构跨多个该容器而插入所导致的所述插入机构的负荷的累计相关的插入履历数和作为所述插入履历数的容许值的容许插入履历数;以及控制部,其进行如下控制:比较所述插入履历数和所述容许插入履历数,且在所述插入履历数达到所述容许插入履历数的情况下,通知操作员。

技术领域

本发明涉及一种进行血液或尿等生物体试样的定性/定量分析的自动分析装置。

背景技术

在自动分析装置中,将收纳于试样容器或试剂容器的收纳物分注至反应容器或子检体容器等来实施分析处理等预定的工程。通常,收纳试样或试剂等收纳物的状态的容器通过盖等的构成密闭,且向事先穿孔的盖插入探针或用探针直接穿刺盖,来进行分注。

若向密闭的容器重复插入探针,即使向事先穿孔的盖插入探针,由于探针接触盖,会存在因该接触发生异物而向收纳物混入的担忧。从而,越是向同一个盖重复插入,该异物混入风险就越高。为此,作为现有技术,例如,如专利文献1,公开了一种设定向探针的盖的容许插入次数N,来进行在插入次数n超过容许插入次数的情况下,不进行插入处理的控制的技术。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2012-21871号公报

发明内容

发明要解决的课题

上述现有技术中,决定好对盖的插入次数的容许次数,以此能够抑制异物的发生等。然而,上述现有技术中,没有考虑任何探针的磨耗或变形的情况。亦即,探针越重复插入于盖,越会因磨耗或变形等劣化,而上述现有技术没有考虑任何对因探针侧的劣化,从盖处发生异物等的情况。

由于盖本身由橡胶等弹性部件制成,一次的插入不至于发生那种程度的探针的劣化,然而近来随着对分注处理能力的提高的需求,探针的插入速度与以往相比呈加快的趋势,施加于探针的一次的插入负荷相对而言在逐渐加大。与此同时,探针的磨耗或变形等劣化导致探针的锐度的劣化,在锐度大幅劣化的情况下,不论向同一盖的插入次数如何,均会存在异物发生等课题。

结果,在探针的锐度劣化的情况下,会更换探针,而迄今为止,是在发生异物的阶段由操作员发现该问题并更换探针。然而,在异物发生后,因异物发生致使分析结果白费,而更换时间内不能进行分析,故存在处理效率下降的担忧。

此外,虽然也可以考虑以期间为标准来更换,但由于装置的运用状况因设施而不同,因而难以引导探针的锐度的劣化程度与期间的关系。而不论运用状况如何,一律一到期间就更换探针是不够经济的,例如,在分析次数少且探针的锐度未劣化尚能使用的情况下,也不得不更换探针。

根据专利文献1的技术,无法知道探针的劣化程度,无法解决上述课题。本发明鉴于上述课题而进行,其目的在于,提供一种抑制分注异常或分析结果异常的发生,并且能够根据探针的劣化程度更换探针的自动分析装置。

此外,尤其是获知探针因插入次数多而导致的劣化程度的情况是有效的,但作为插入于盖的机构,除了探针外,还有刀片或中空管等,对与这些而言,知道劣化程度也成为一种更换的标准,因而有效。

用于解决课题的手段

为达成上述目的,具有代表性的本发明是一种自动分析装置,其具备:插入机构,其贯通封闭的容器的盖而插入于该容器中;存储部,其存储与因所述插入机构跨越多个该容器而插入所导致的所述插入机构的负荷的累计相当的插入履历数、和作为所述插入履历数的容许值的容许插入履历数;以及控制部,其进行如下控制:比较所述插入履历数和所述容许插入履历数,在所述插入履历数达到所述容许插入履历数的情况下,通知操作员。

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