[发明专利]光热光谱测定读取器以及相关的测定套件和方法

权利要求书

1.一种用于检测分析物在布置在侧流测定仪中的样品中的存在的光热光谱测定读取器，所述光热光谱测定读取器包括：

样品支架，所述样品支架被配置用于接收具有测试区域的侧流测定仪；

光源，所述光源被配置用于发射有待由所述侧流测定仪的所述测试区域接收的具有约600nm至约750nm的平均波长的光；以及

热传感器，所述热传感器被配置用于检测来自所述侧流测定仪的所述测试区域的热响应。

2.如权利要求1所述的光热光谱测定读取器，其中，所述光源被配置用于发射具有约600nm至约650nm的平均波长的所述光。

3.如权利要求1所述的光热光谱测定读取器，其中，所述光源被配置用于发射具有约600nm至约700nm的平均波长的所述光。

4.如权利要求1所述的光热光谱测定读取器，其中，所述光源包括激光器，所述激光器被配置用于发射具有约600nm至约750nm的平均波长的激光束。

5.如权利要求4所述的光热光谱测定读取器，其中，所述激光器包括脉冲激光器，所述脉冲激光器被配置用于发射所述激光束。

6.如权利要求5所述的光热光谱测定读取器，其中，所述脉冲激光器被配置用于以约每1ms至约每1000ms发射所述激光束。

7.如权利要求1所述的光热光谱测定读取器，其中，所述热传感器包括红外相机。

8.如权利要求1所述的光热光谱测定读取器，进一步包括：

诊断电路系统，所述诊断电路系统被耦合到所述热传感器上；

其中，所述热传感器被配置用于输出包括关于检测到的热响应的信息的一个或多个信号；并且

其中，所述诊断电路系统进一步被配置用于至少部分地基于由所述热传感器输出的所述一个或多个信号提供诊断条件。

9.如权利要求8所述的光热光谱测定读取器，其中，所述诊断条件包括所述分析物在被引入到所述侧流测定仪的所述样品内的所述存在的指示。

10.一种使用光热光谱测定读取器来确定分析物在侧流测定仪中的存在的方法，所述方法包括：

接收指示所述侧流测定仪存在于所述光热光谱测定读取器的样品支架中的一个或多个信号，其中，所述侧流测定仪包括测试区域；

从光源发射由所述侧流测定仪的所述测试区域接收的光，其中，所述光展现约600nm至约750nm的平均波长；并且

响应于发射所述光，利用热传感器检测来自所述侧流测定仪的所述测试区域的热响应。

11.如权利要求10所述的方法，进一步包括：

将一个或多个信号从所述热传感器传输到诊断电路系统，其中，所述一个或多个信号包括由所述热传感器检测到的数据；并且

利用所述诊断电路系统对所述数据进行分析，以便判定所述分析物是否存在于所述侧流测定仪内。

12.如权利要求11所述的方法，进一步包括将所述所分析数据从所述诊断电路系统传输到用户。

13.如权利要求11所述的方法，其中，对所述数据进行分析包括将在所述分析物不存在的情况下的所述测试区域的预期热响应与由所述热传感器检测到的所述热响应进行比较。

14.如权利要求10所述的方法，其中，所述光源包括激光器，所述激光器被配置用于发射具有约600nm至约750nm的平均波长的激光束。

15.如权利要求14所述的方法，其中，所述激光器包括脉冲激光器，所述脉冲激光器被配置用于发射所述激光束。

16.如权利要求10所述的方法，进一步包括：

检测所述侧流测定仪的识别标志；并且

响应于所述识别标志来识别被配置用于结合到所述分析物上的共轭物材料。

17.如权利要求16所述的方法，其中，所述共轭物材料包括热响应指示剂纳米颗粒。

18.如权利要求16所述的方法，其中，所述共轭物材料包括热响应指示剂纤维素纳米珠粒。

19.如权利要求16所述的方法，其中，所述共轭物材料包括热响应指示剂金纳米颗粒。