[发明专利]MRCAT图像中的不确定区域的后退解决方案

权利要求书

1.一种用于计算检查体积的备选电子密度图(84)的处理系统，包括处理系统(30)，所述处理系统(30)被配置为：

-使用多个成像数据来计算第一电子密度图(80)，

-计算第二电子密度图(82)，其中，所述第二电子密度图(82)是所述第一电子密度图(80)的简化版本，

-使用所述第一电子密度图(80)和所述第二电子密度图(82)来计算所述备选电子密度图(84)，

其中，所述处理系统(30)被配置为在一个或多个伪迹区(90)中由所述第二电子密度图(82)替代所述第一电子密度图(80)，以获得所述备选电子密度图(84)，

其中，所述处理系统还包括用户接口系统(40)，所述用户接口系统被配置为显示所述第一电子密度图(80)，并且所述用户接口系统包括用户输入系统(42)，所述用户输入系统允许用户输入识别和界定所述第一电子密度图上的所述一个或多个伪迹区(90)的用户数据。

2.根据权利要求1所述的处理系统，其中，所述第二电子密度图(82)对应于所述第一电子密度图(80)的轮廓，并且被填充有均匀值，具体地所述均匀值是等效水密度。

3.一种用于计算剂量辐射分布的规划系统，包括：

-根据权利要求1至2中的任一项所述的处理系统(30)，其被配置用于使用多个成像数据来计算第一电子密度图(80)，计算第二电子密度图(82)并且计算备选电子密度图(84)，所述备选电子密度图(84)是使用所述第一电子密度图(80)和所述第二电子密度图(82)计算的，

-辐射治疗规划系统(45)，其被配置为使用所述第一电子密度图(80)来计算第一剂量辐射分布，并且使用所述备选电子密度图(84)来重新计算第二剂量分布。

4.一种计算检查体积的备选电子密度图的方法，包括以下步骤：

-使用多个成像数据来计算第一电子密度图(80)，

-计算第二电子密度图(82)，其中，所述第二电子密度图(82)是所述第一电子密度图(80)的简化版本，

-使用所述第一电子密度图(80)和所述第二电子密度图(82)来计算所述备选电子密度图(84)，

-在一个或多个识别的伪迹区(90)中由所述第二电子密度图(82)替代所述第一电子密度图(80)，以获得所述备选电子密度图(84)，

-显示所述第一电子密度图(80)并且获得识别所述一个或多个伪迹区(90)的用户输入数据。

5.根据权利要求4所述的方法，包括向所述第二电子密度图(82)分配均匀密度值，所述均匀密度值具体地是水等效密度值。

6.一种计算剂量辐射分布的方法，包括以下步骤：

-计算第一电子密度图(80)，

-使用所述第一电子密度图(80)来计算第一剂量辐射分布，

-使用根据权利要求4-5中的任一项所述的方法和/或根据权利要求1-3的任一项所述的系统来计算备选密度图(84)，

-使用所述备选电子密度图(84)来计算第二剂量分布。

7.一种计算检查体积的备选电子密度图的装置，包括处理器和具有计算机程序的存储器，所述存储器包括存储在其中的控制逻辑，所述控制逻辑用于令计算机运行使得处理器能够执行根据权利要求4-5中的任一项所述的方法的步骤的指令。

8.一种计算检查体积的备选电子密度图的装置，包括：

-用于使用多个成像数据来计算第一电子密度图(80)的单元；

-用于计算第二电子密度图(82)的单元，其中，所述第二电子密度图(82)是所述第一电子密度图(80)的简化版本；

-用于使用所述第一电子密度图(80)和所述第二电子密度图(82)来计算备选电子密度图(84)的单元；

-用于在一个或多个识别的伪迹区(90)中由所述第二电子密度图(82)替代所述第一电子密度图(80)，以获得所述备选电子密度图(84)的单元；以及

-用于显示所述第一电子密度图(80)并且获得识别所述一个或多个伪迹区(90)的用户输入数据的单元。

9.一种计算剂量辐射分布的装置，所述装置包括处理器和具有计算机程序的存储器，所述存储器包括存储在其中的控制逻辑用于令计算机运行使得处理器能够执行根据权利要求6所述的方法的步骤的指令。