[发明专利]用于光检测与测距光学对准的方法与系统有效

专利信息
申请号: 201680018437.5 申请日: 2016-03-18
公开(公告)号: CN107407727B 公开(公告)日: 2019-05-10
发明(设计)人: G.彭内科特;P-Y.德罗兹 申请(专利权)人: 伟摩有限责任公司
主分类号: G01S17/42 分类号: G01S17/42;G01S7/481;G01S7/497
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王冉
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 测距 光学 对准 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种用于光检测和测距装置对准的方法,包括:

使用位于光检测和测距装置的外部的给定位置处的相机获得第一图像,其中,所述光检测和测距装置包括发射块和接收块,其中,所述发射块包括一个或多个光源,其中,所述接收块包括一个或多个光检测器,并且其中,所述第一图像指示所述一个或多个光源的光源位置;

使用位于所述光检测和测距装置的外部的所述给定位置处的所述相机获得第二图像,其中,所述第二图像指示所述一个或多个光检测器的检测器位置;

将所述第一图像与所述第二图像比较以确定与光源相关联的一个或多个像素和与对应的光检测器相关联的一个或多个像素之间的分离;以及

至少基于所述比较,调整在所述光检测和测距装置中所述接收块的安装位置。

2.根据权利要求1所述的方法,还包括:

利用辅助光源照明所述一个或多个光检测器,其中,在所述一个或多个光检测器被所述辅助光源照明的同时获得所述第二图像。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述辅助光源发射处于源波长的光,并且其中,所述发射块的所述一个或多个光源发出处于源波长的光。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,获得所述第一图像包括:

在以下的同时获得所述第一图像:(i)所述一个或多个光源正在发射处于源波长的光,以及(ii)滤光器被定位在所述相机的视场内,其中所述滤光器衰减在包括所述源波长的波长范围内的光。

5.根据权利要求4所述的方法,其中,获得所述第二图像包括在所述滤光器在所述相机的所述视场的外部的同时获得所述第二图像。

6.根据权利要求4所述的方法,还包括:

在获得所述第一图像之前,调整所述滤光器的位置,使得所述滤光器定位在所述相机的所述视场内。

7.根据权利要求4所述的方法,还包括:

在获得所述第二图像之前,调整所述滤光器的位置,使得所述滤光器在所述相机的所述视场的外部。

8.根据权利要求1所述的方法,还包括:

使多个光源沿所述相机的相机透镜的外围定位以朝向所述光检测和测距装置发射光脉冲;

使用所述相机获得第三图像,所述第三图像指示被发射的光脉冲的反射;以及

将所述第三图像与存储的图像比较,其中,调整所述接收块的安装位置还基于所述第三图像与所述存储的图像的比较。

9.根据权利要求1所述的方法,还包括:

将多个探针朝向所述接收块致动,其中,所述多个探针中的给定探针被配置为检测所述给定探针和所述接收块之间的接触,并且其中,调整所述接收块的安装位置包括使致动器移动所述接收块直到所述多个探针中的至少两个探针同时检测到所述接收块。

10.一种用于光检测和测距装置对准的方法,包括:

使用位于光检测和测距装置的外部的给定位置处的相机获得第一图像,其中,所述光检测和测距装置包括发射块和接收块,其中,所述发射块包括一个或多个光源,其中,所述接收块包括一个或多个光检测器,并且其中,所述第一图像指示所述一个或多个光源的光源位置;

使用位于所述光检测和测距装置的外部的所述给定位置处的所述相机获得第二图像,其中,所述第二图像指示所述一个或多个光检测器的检测器位置;

将所述第一图像与所述第二图像比较以确定与光源相关联的一个或多个像素和与对应的光检测器相关联的一个或多个像素之间的分离;以及

至少基于所述比较,调整在所述光检测和测距装置中所述发射块的安装位置。

11.根据权利要求10所述的方法,还包括:

利用辅助光源照明所述一个或多个光检测器,其中,在所述一个或多个光检测器被所述辅助光源照明的同时获得所述第二图像。

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