[发明专利]基于检测传感器数据的阻抗补偿

说明书

一种存储器子系统通过存储器装置监视对于阻抗补偿的需要来管理存储器I/O阻抗补偿。代替存储器控制器定期发送信号使存储器装置在不需要改变时更新阻抗补偿的是，存储器装置能够指示它何时准备好执行阻抗补偿改变。存储器控制器能够响应于存储器设置的补偿标志，或者响应于确定传感器值已改变超过阈值，发送阻抗补偿信号到存储器装置。

技术领域

本发明的实施例一般涉及装置间I/O阻抗补偿，并且更具体地说，涉及管理基于检测传感器数据的阻抗补偿。

版权通知/许可

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背景技术

随着使用存储器的系统在存储需求上的增大，存储器装置继续攀升到更高密度。正如随着存储器的量的增大，存在的预期是，诸如服务器、桌面型或膝上型计算机、移动装置、以及消费和商业电子器件的计算平台将在性能上提高。提高性能同时也增大存储器大小导致了增大带宽缩放比例（scaling）。增大的存储器带宽缩放比例已要求I/O（输入/输出）阻抗补偿（ZQ comp），以能够保持足够的信号完整性。在前几代存储器中，不同形式的电阻补偿或ZQ comp主要由存储器控制器使用在存储器装置（例如，DRAM（动态随机存取存储器））中的模式进行管理，以保持所要求的容限。所述模式指在不同配置设置下的操作。

随着频率增大，容限余量（tolerance margin）在精度方面继续增大，并且存储器控制器在其I/O接口闲置时间段方面所要求的开销也继续增大。存储器控制器所要求的开销越大，专用于管理I/O容限的带宽就越多，这能消极地影响性能。阻抗补偿的传统方案要求存储器控制器基于最差情况系统假设来周期性地管理I/O终端。许多情况下，如果存储器装置的电压和温度稳定，则可不要求执行阻抗补偿操作。更具体地说，在活跃时间段期间，存储器装置的温度和电压的操作条件能够相当稳定，并且不要求阻抗补偿调整。因此，存储器控制器将不必向存储器装置发出ZQ comp信号。根据其中DRAM能够在调整之间以更长时间段操作的最差情况，ZQ comp信号的不必要发出导致对于存储器控制器管理多个DRAM负载而言更低的性能和增大的复杂性。

附图说明

下面的描述包括对图的讨论，所述图具有作为示例给出的对本发明的实施例的实现的说明。图应作为示例而不是作为限制来被理解。如在本文中所使用的，对一个或多个“实施例”的引用要理解为描述包括在本发明的至少一个实现中的特定特征、结构和/或特性。因此，本文中出现的诸如“在一个实施例中”或“在备选实施例中”的短语描述本发明的各种实施例和实现，并且不必全部指相同的实施例。然而，它们也不一定相互排斥。

图1是在其中阻抗补偿基于存储器装置传感器数据的系统的实施例的框图。

图2是在其中存储器装置传感器数据除刷新控制设置外还能被用于阻抗补偿的存储器子系统的实施例的框图。

图3是用于自适应阻抗补偿的命令/地址定时的时序图的实施例。

图4是用于基于存储器装置传感器数据，执行阻抗补偿的过程的实施例的流程图。

图5是用于将存储器装置传感器数据应用于自刷新控制和阻抗补偿的过程的实施例的流程图。

图6是在其中能够实现基于存储器装置传感器数据的阻抗补偿的计算系统的实施例的框图。

图7是在其中能够实现基于存储器装置传感器数据的阻抗补偿的移动装置的实施例的框图。

下面是某些细节和实现的描述，其包括可描绘下面描述的一些或所有实施例的附图的描述以及讨论本文中呈现的发明性概念的其它潜在实施例或实现。

具体实施方式