[发明专利]CMM探针路径控制器和方法

权利要求书

1.一种使用CMM测量对象的方法，所述方法包括以下步骤：

接收与所述对象有关的标称几何结构数据；

基于所接收的标称几何结构数据产生设定路径；

使用CMM探针进行所述对象的设定测量，所述CMM探针通过遵循所述设定路径进行所述设定测量，所述对象的所述设定测量产生扫描路径信息；

使用所述扫描路径信息生成扫描路径；以及

控制所述CMM探针以通过使所述CMM探针相对于所述对象沿着所生成的扫描路径移动来进行所述对象的精细测量。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述CMM探针包括具有焦距的非接触探针。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述设定路径沿着所述对象引导所述CMM探针，所述CMM探针在它遵循所述设定路径沿着所述对象移动时移动超出其焦距至少一次。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述CMM探针包括接触探针。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述扫描路径包括围绕所述对象的至少一周。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述扫描路径包括围绕所述对象的多周，所述CMM探针在各周期间进行所述对象的至少一次精细测量，所述CMM探针在所述扫描路径的至少两个相邻周之间移动，而所述CMM探针在所述两个相邻周之间不进行所述对象的精细测量。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述扫描路径包括围绕所述对象的多周，所述CMM探针在相邻周之间不进行精细测量。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述设定测量包括与所述对象有关的实际几何结构数据，所述设定测量具有第一精确度，所述对象的所述精细测量具有比所述第一精确度更精确的第二精确度。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，所述对象具有表面，所述CMM探针生成具有纵轴的光束，所述扫描路径使所述CMM探针定向为使得所述光束的纵轴在所述扫描路径的大部分期间大致垂直于所述对象的所述表面。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，所述精细测量包括沿着所述对象的至少一部分的一维测量。

11.一种CMM，该CMM包括：

底座，该底座被构造为支撑对象；

CMM探针；

控制系统，该控制系统与所述CMM探针可操作地连接，所述控制系统被配置为使得所述CMM探针进行所述对象的设定测量，所述CMM探针通过遵循基于所述对象的标称几何结构数据的设定路径进行所述设定测量，所述对象的所述设定测量产生扫描路径信息，所述控制系统还被配置为使用所述扫描路径信息生成扫描路径，并且控制所述CMM探针以通过使得所述CMM探针沿着所生成的扫描路径移动来进行所述对象的精细测量。

12.根据权利要求11所述的CMM，所述CMM还包括转台，该转台用于支撑所述对象并使所述对象定向。

13.根据权利要求11所述的CMM，其中，所述CMM探针包括具有焦距的非接触探针。

14.根据权利要求11所述的CMM，其中，所述设定路径沿着所述对象引导所述CMM探针，所述CMM探针被配置为在它遵循所述设定路径沿着所述对象移动时移动超出其焦距至少一次。

15.根据权利要求11所述的CMM，其中，所述扫描路径包括围绕所述对象的至少一周。

16.根据权利要求15所述的CMM，其中，所述扫描路径包括围绕所述对象的多周，所述控制系统被配置为使得所述CMM探针在各周期间进行所述对象的至少一次精细测量，所述控制系统被配置为使所述CMM探针在所述扫描路径的至少两个相邻周之间移动，而所述CMM探针不进行所述对象的至少一次精细测量。

17.根据权利要求11所述的CMM，其中，所述扫描路径包括不到围绕所述对象的一周。

18.根据权利要求11所述的CMM，所述CMM还包括存储器，该存储器存储所述对象的CAD模型，所述CAD模型包括所述对象的所述标称几何结构数据。