[发明专利]车载控制装置、车载集成电路

说明书

本发明提供在发货后也能够继续输出稳定的输出值的半导体集成电路以及使用该半导体集成电路的车载控制装置。本发明具备输出基准信号的基准信号发生部，根据与所述基准信号发生部在不同的2个时刻下输出的所述基准信号分别对应的半导体电路的输出值之间的差分，检测所述半导体电路的动作状态。

技术领域

本发明涉及一种车载集成电路以及使用该车载集成电路的车载控制装置。

背景技术

近年来，搭载于车辆的各种设备的电子控制化正在推进，在车载控制装置的电源发生部、传感器、驱动装置的输出值的监测功能等中，广泛使用半导体集成电路。

当这些半导体集成电路持续动作时，由于热载流子、NBTI(Negative BiasTemperature Instability，负偏压温度不稳定性)、布线迁移等的影响，特性会逐渐发生变动，作为其结果，有可能车辆控制装置的特性会劣化，从而对车辆控制造成影响。

以往，公开了通过发货后的半导体集成电路的自我测试等来检测有没有故障的技术。例如，下述专利文献1记载了如下半导体集成电路，该半导体集成电路“将从所述诊断信号生成电路生成的所述高电平、所述低电平、所述中间电平这3个状态的所述输出供给到所述A/D转换器的模拟信号输入端子，使其执行A/D转换，根据所述A/D转换器的数字输出来诊断所述A/D转换器的良/不良”(参照权利要求1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2007－309773号公报

发明内容

发明要解决的技术问题

在上述专利文献1中，如“根据A/D转换器的数字输出来诊断A/D转换器的良/不良”的记载所述，虽然能够检测到在电路中发生异常而无法进行正常动作，但未考虑到检测由电路的随时间劣化等导致的特性的变动。因此，半导体集成电路以及使用该半导体集成电路的车载控制装置的寿命有可能比设想的短。

本发明是鉴于上述问题而完成的，其目的在于，提供一种在发货后也能够继续输出稳定的输出值的半导体集成电路以及使用该半导体集成电路的车载控制装置。

解决技术问题的技术手段

本发明具备输出基准信号的基准信号发生部，根据与所述基准信号发生部在不同的2个时刻下输出的所述基准信号分别对应的半导体电路的输出值之间的差分，检测所述半导体电路的动作状态。

发明效果

根据本发明，即使在半导体电路的特性随时间发生了变动的状态下，也能够检测该状况并继续输出稳定的输出值。上述以外的问题、结构以及效果将通过以下的实施方式的说明而变得明确。

附图说明

图1是示出实施方式1的半导体集成装置1的结构的框图。

图2是说明半导体集成装置1的发货前的动作的流程图。

图3是说明半导体集成装置1的发货后的动作的流程图。

图4是说明半导体集成装置1的发货后的动作的流程图。

图5是示出实施方式2的车载控制装置U1的结构的框图。

图6是示出负载电流IL的随时间变化的例子的曲线图。

图7是示出实施方式3的车载控制装置的结构的框图。

图8是示出实施方式4的车载控制装置的结构的框图。

图9是示出实施方式5的半导体集成装置1的结构的框图。

图10是说明半导体集成装置1的发货前的动作的流程图。