[发明专利]红外线摄像装置及固定模式干扰数据的更新方法有效
申请号: | 201680028637.9 | 申请日: | 2016-05-13 |
公开(公告)号: | CN107615021B | 公开(公告)日: | 2019-11-26 |
发明(设计)人: | 古田善工 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | G01J1/44 | 分类号: | G01J1/44;G01J1/12;G01J1/42;H01L27/14;H04N5/33;H04N5/365 |
代理公司: | 72002 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 徐殿军<国际申请>=PCT/JP2016 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 红外线 摄像 装置 固定 模式 干扰 数据 更新 方法 | ||
1.一种红外线摄像装置,其特征在于,具备:
红外线检测器,包括对所入射的红外线进行检测的多个检测器元件;
干扰校正处理部,从由所述多个检测器元件检测到的红外线的检测信号减去固定模式干扰数据,由此从所述红外线的检测信号去除固定模式干扰;及
干扰数据更新处理部,其包括:信号成分量计算部,根据由所述红外线检测器检测到的多次的红外线的检测信号,算出包括在所述红外线的检测信号中的取决于入射到所述红外线检测器的红外线的信号成分的量;固定模式干扰算出部,根据所述红外线的检测信号和所述算出的信号成分的量,算出固定模式干扰成分的量;及数据更新部,以由所述算出的固定模式干扰成分的量而更新所述固定模式干扰数据,
关于处理对象的各检测器元件,所述信号成分量计算部算出由该检测器元件检测到的多次的所述红外线的检测信号的分散或标准偏差,并根据该算出的分散或标准偏差而算出所述信号成分的量,
所述固定模式干扰算出部将所述红外线的检测信号与所述算出的信号成分的量之差作为所述固定模式干扰成分的量而算出。
2.根据权利要求1所述的红外线摄像装置,其中,
所述干扰数据更新处理部还包括判定部,关于各检测器元件,所述判定部计算所述算出的固定模式干扰成分的量与更新前的固定模式干扰数据的差值,并判定该差值是否为第1阈值以下,
关于被判定为所述差值为第1阈值以下的检测器元件,所述数据更新部以由所述算出的固定模式干扰成分的量而更新所述固定模式干扰数据。
3.根据权利要求2所述的红外线摄像装置,其中,
关于被判定为所述差值大于第1阈值的检测器元件,所述数据更新部不进行所述固定模式干扰数据的更新。
4.根据权利要求2所述的红外线摄像装置,其中,
关于某一区域,在该区域中的所述差值超过第1阈值的检测器元件的数量的比例高于第2阈值的情况下,关于包括在该区域中的检测器元件,所述数据更新部不进行所述固定模式干扰数据的更新。
5.根据权利要求1所述的红外线摄像装置,其中,
所述红外线摄像装置还具备测量温度的温度测量部,在所述温度测量部测量的温度与上一次固定模式干扰数据的更新时的温度之差为温度阈值以上的情况下,所述数据更新部进行所述固定模式干扰数据的更新。
6.根据权利要求1所述的红外线摄像装置,其中,
所述数据更新部周期性地重复进行所述固定模式干扰数据的更新。
7.根据权利要求1所述的红外线摄像装置,其中,
所述红外线摄像装置还具备:
光学系统,可进行成像位置的控制;及
焦点位置控制部,控制所述光学系统的成像位置,
在所述红外线检测器的多个检测器元件中,经由所述光学系统而被入射红外线,
在所述焦点位置控制部控制所述光学系统的成像位置,从而所述光学系统被控制成非对焦状态的状态下,所述信号成分量计算部算出由所述检测器元件检测到的多次的红外线的检测信号的分散或标准偏差。
8.一种固定模式干扰数据的更新方法,其为包括多个检测器元件的红外线检测器中的表示固定模式干扰的固定模式干扰数据的更新方法,所述固定模式干扰数据的更新方法的特征在于,具有:
由所述红外线检测器来检测红外线的步骤;
算出通过实施多次检测所述红外线的步骤而得到的多次的红外线的检测信号的分散或标准偏差的步骤;
根据所述算出的分散或标准偏差算出包括在所述红外线的检测信号中的取决于入射到所述检测器元件的红外线的信号成分的量的步骤;
根据所述红外线的检测信号与所述算出的信号成分的量算出固定模式干扰成分的量的步骤;及
以所述算出的固定模式干扰成分的量而更新所述固定模式干扰数据的步骤,
在更新所述固定模式干扰数据的步骤之前,还具有计算所述算出的固定模式干扰成分的量与更新前的固定模式干扰数据的差值的步骤。
9.根据权利要求8所述的固定模式干扰数据的更新方法,其中,
在更新所述固定模式干扰数据的步骤中,关于所述算出的固定模式干扰成分的量与更新前的固定模式干扰数据的差值为阈值以下的检测器元件,以所述算出的固定模式干扰成分的量而更新所述固定模式干扰数据。
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