[发明专利]具有提高的光吸收的光敏像素结构以及光敏植入物有效
申请号: | 201680029437.5 | 申请日: | 2016-06-23 |
公开(公告)号: | CN107667432B | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 马丁·德特尔 | 申请(专利权)人: | PIXIUM视野股份公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;A61N1/36;A61N1/05 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 谢攀;刘继富 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 提高 光吸收 光敏 像素 结构 以及 植入 | ||
1.一种光敏像素结构(10),包括具有前表面和后表面的衬底(15),其中,在所述衬底(15)的所述表面中的一个上设置有至少一个光敏二极管(12、12’),
其特征在于,第一材料层(30)至少部分地设置在所述衬底(15)的所述后表面上,其中,所述第一材料层(30)包括埋氧化物层,所述埋氧化物层的厚度与其余材料的材料特性相适应,并且其中,在钛和埋氧化物层的堆叠被用作第一材料层(30)的情况下,所述埋氧化物层的厚度的范围为65nm到210nm或365nm到510nm或665nm到810nm。
2.根据权利要求1所述的光敏像素结构(10),其中,所述衬底(15)包括适于吸收预定波长或波长范围的光的材料。
3.根据权利要求1或2所述的光敏像素结构(10),其特征在于,所述第一材料层(30)还包括金属层。
4.根据权利要求3所述的光敏像素结构(10),其特征在于,所述第一材料层(30)形成为所述衬底(15)的整体的一部分。
5.根据权利要求1或2所述的光敏像素结构(10),其特征在于,所述第一材料层(30)包括埋氧化物层,以及铝层,其中,所述埋氧化物层被夹在所述衬底(15)和所述铝层之间。
6.根据权利要求1或2所述的光敏像素结构(10),其特征在于,至少在所述第一材料层(30)的背对所述衬底(15)的表面上设置第二材料层(32),所述第二材料层(32)密封地覆盖至少所述第一材料层(30)和/或所述衬底(15)的所述后表面。
7.根据权利要求6所述的光敏像素结构(10),其特征在于,所述第二材料层包括钛和/或陶瓷层,或者由钛和/或陶瓷层组成。
8.根据权利要求7所述的光敏像素结构(10),其特征在于,所述第一和/或第二材料层(30、32)包括钛,并且钛层的厚度不小于100nm。
9.根据权利要求2所述的光敏像素结构(10),其中,所述材料是硅。
10.根据权利要求3所述的光敏像素结构(10),其中,所述埋氧化物层为SiO2层。
11.根据权利要求3所述的光敏像素结构(10),其中,所述金属层为铝层或钛层。
12.根据权利要求5所述的光敏像素结构(10),其中,所述埋氧化物层为SiO2层。
13.根据权利要求7所述的光敏像素结构(10),其特征在于,所述第一和/或第二材料层(30、32)包括钛,并且钛层的厚度大于200nm。
14.根据权利要求7所述的光敏像素结构(10),其特征在于,所述第一和/或第二材料层(30、32)包括钛,并且钛层的厚度大于或等于500nm。
15.根据权利要求1或2所述的光敏像素结构(10),其中,所述埋氧化物层的厚度是130nm或430nm或130nm加上300nm的任何倍数。
16.一种光敏像素阵列(1),包括多个根据权利要求1至15中任一项所述的光敏像素结构,其中,所述多个光敏像素结构被布置在阵列中。
17.一种光敏像素阵列(1),包括多个根据权利要求1至15中任一项所述的光敏像素结构,其中,设置与所述第一材料层(30)相邻的第二材料层(32)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的