[发明专利]屏蔽板以及测定装置在审
申请号: | 201680030362.2 | 申请日: | 2016-05-24 |
公开(公告)号: | CN107615024A | 公开(公告)日: | 2018-01-19 |
发明(设计)人: | 中村共则 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | G01J5/48 | 分类号: | G01J5/48;G01J5/00;G01J5/06 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司11322 | 代理人: | 杨琦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 屏蔽 以及 测定 装置 | ||
1.一种屏蔽板,其特征在于:
是用于测定对象的温度的非接触测定的屏蔽板,
具备能够调整温度的基材,
所述基材具有:
屏蔽部,形成于所述屏蔽板;
开口部,形成于所述屏蔽部周围;以及
黑体部,在所述基材的一个面上,以包含夹持所述屏蔽部而与所述开口部相对的部分的方式形成,并放射红外线。
2.如权利要求1所述的屏蔽板,其特征在于:
所述开口部以成为将所述屏蔽部作为中心的奇数次旋转对称的方式形成于所述屏蔽部周围。
3.如权利要求1所述的屏蔽板,其特征在于:
所述开口部以圆环状形成于所述黑体部周围。
4.如权利要求1~3中的任意一项所述的屏蔽板,其特征在于:
所述开口部以随着从所述基材的所述一个面朝向所述基材的另一个面而变小的方式形成。
5.一种测定装置,其特征在于:
是进行测定对象的温度的非接触测定的测定装置,
具备:
权利要求1~4中的任意一项所述的屏蔽板,其中,所述基材的一个面与所述测定对象相对而配置;
导光光学系统,对通过了所述屏蔽板的所述开口部的红外线进行导光;
红外线检测器,与所述导光光学系统光学耦合,检测被导光了的所述红外线,并输出检测信号;
温度控制部,控制所述屏蔽板的温度;以及
运算部,根据所述检测信号,求得所述测定对象的温度,
所述屏蔽板以所述屏蔽部位于所述导光光学系统的光轴上的方式配置。
6.如权利要求5所述的测定装置,其特征在于:
所述温度控制部以所述屏蔽板的基材的温度至少成为第1温度以及与第1温度不同的第2温度的方式进行控制,
所述运算部根据所述第1温度时的所述检测信号以及所述第2温度时的所述检测信号,求得所述测定对象的温度。
7.如权利要求5或者6所述的测定装置,其特征在于:
所述红外线检测器是二维红外线检测器。
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