[发明专利]形状测定装置和形状测定方法在审
申请号: | 201680030479.0 | 申请日: | 2016-12-20 |
公开(公告)号: | CN107787438A | 公开(公告)日: | 2018-03-09 |
发明(设计)人: | 日比厚裕;今野雄介;赤木俊夫;古家顺弘;黑岩朋广;中崎昭仁 | 申请(专利权)人: | 新日铁住金株式会社 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 形状 测定 装置 方法 | ||
1.一种形状测定装置,具备:
光源,其对移动的带状体的表面以规定的入射角照射线状光;
屏幕,所述带状体的表面上的所述线状光的反射光被投射到屏幕上;
摄像部,其对被投射到所述屏幕上的所述线状光的反射光进行拍摄;以及
运算处理部,其根据由所述摄像部拍摄到的所述线状光的反射光的线长度,获取所述带状体的在宽度方向上的翘曲量。
2.根据权利要求1所述的形状测定装置,其特征在于,
所述光源对所述带状体的表面以74°以上且88°以下的所述入射角照射波长为200nm以上且1700nm以下的所述线状光,
所述带状体的表面上的所述线状光的沿着所述带状体的长度方向的线宽为2mm以下。
3.根据权利要求1或2所述的形状测定装置,其特征在于,
所述光源从所述带状体的移动方向上游侧或者下游侧对所述带状体的表面倾斜地照射线状光。
4.根据权利要求1或2所述的形状测定装置,其特征在于,
所述光源从所述带状体移动的线路侧方对所述带状体的表面照射所述线状光。
5.根据权利要求1~4中的任一项所述的形状测定装置,其特征在于,
所述运算处理部具备:
屏幕像长度获取部,其获取包含在由所述摄像部获取到的摄像图像中的作为所述带状体的反射光的屏幕像的线长度;以及
翘曲运算部,其基于预先获取到的、所述带状体的反射光的线长度与所述带状体的在宽度方向上的翘曲量之间的关系,根据由所述屏幕像长度获取部获取到的所述屏幕像的线长度来运算所述带状体的在宽度方向上的翘曲量。
6.根据权利要求4所述的形状测定装置,其特征在于,
所述光源以绕该光源的光轴旋转规定角度的方式进行设置。
7.根据权利要求6所述的形状测定装置,其特征在于,
所述运算处理部具备:
屏幕像长度获取部,其获取包含在由所述摄像部获取到的摄像图像中的作为所述带状体的反射光的屏幕像的线长度;以及
翘曲运算部,其基于预先获取到的、所述带状体的反射光的线长度与所述带状体的在宽度方向上的翘曲量之间的关系,根据由所述屏幕像长度获取部获取到的所述屏幕像的线长度来运算所述带状体的在宽度方向上的翘曲量,
其中,所述翘曲运算部根据预先获取到的、所述带状体的反射光的线长度与所述带状体的在宽度方向上的翘曲量之间的关系、以及由所述摄像部获取到的摄像图像中的屏幕像的倾斜度,来确定所述带状体的翘曲量。
8.一种形状测定方法,包括以下步骤:
第一步骤,使用光源来对移动的带状体的表面以规定的入射角照射线状光,利用摄像部对被投射了所述带状体的表面上的所述线状光的反射光的屏幕进行拍摄,获取包含作为所述带状体的反射光的屏幕像的摄像图像;以及
第二步骤,根据包含在所述摄像图像中的所述屏幕像的线长度,获取所述带状体的在宽度方向上的翘曲量。
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