[发明专利]用于在线监控薄膜质量的方法以及具有用于在线监控薄膜质量的设备的薄膜机在审

专利信息
申请号: 201680033120.9 申请日: 2016-06-06
公开(公告)号: CN107810099A 公开(公告)日: 2018-03-16
发明(设计)人: 托尔斯滕·施米茨 申请(专利权)人: 温德默勒&霍乐沙两合公司
主分类号: B29C47/00 分类号: B29C47/00;B29C47/88;B29C47/92;B29C47/14;B29C55/02;B29L7/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 代理人: 杨贝贝,臧建明
地址: 德国伦*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 在线 监控 薄膜 质量 方法 以及 具有 设备
【权利要求书】:

1.用于在塑料薄膜的、特别是吹塑薄膜或流延薄膜的制造过程中在线监控薄膜质量的方法,其中,

-将薄膜材料(1)从排出装置(40)中以熔体条(4)的形式通过输送装置(10)导出,其中,薄膜材料(1)在输送装置(10)上或在输送装置(10)上游冷却,

-薄膜材料(1)在输送装置(10)上游或在输送装置(10)处凝固,其特征在于如下步骤:

a)确定冻结线(FL)的位置,在该冻结线处薄膜材料(1)在输送装置(10)上游或在输送装置(10)处凝固,

b)测量凝固中的薄膜材料(1)的在冻结线(FL)附近存在的至少一个过程参数(P),

c)计算至少一个松弛参量,所述松弛参量考虑到薄膜材料(1)的分子取向的松弛,

d)检验所述至少一个松弛参量以何种程度位于过程限度(G)之内。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,按照步骤a)确定冻结线(FL)的位置是至少部分地借助确定薄膜材料(1)的温度来实现的。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,设有多个测量部位(2),用以测量过程参数(P)。

4.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,设有用于测量过程参数(P)的测量部位(2),所述测量部位横向于冻结线(FL)和/或横向于薄膜材料(1)的由输送装置(10)预定的输送方向(3)。

5.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,所述过程参数(P)是薄膜材料(1)的温度。

6.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,按照步骤c),所述松弛参量至少与冻结线(FL)的位置和所述至少一个过程参数(P)相关。

7.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,为所述松弛参量考虑多个松弛,特别是从熔体条(4)沿输送方向(3)直至冻结线(FL)和/或直至冻结线(FL)上游不远处或冻结线下游不远处的松弛开始的多个松弛。

8.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,按照步骤c),对于每个测量部位(2)测定松弛参量,其中,在步骤d)中使各个松弛参量与过程限度(G)相关联。

9.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,在塑料薄膜的真正的制造过程开始之前,如此长时间地执行调试过程(6),直至松弛参量处在调试限度(E)之内,特别是当达到调试过程(6)的结尾时,储存过程参数的过程数据。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,在调试过程(6)之后在定义的校准时间内进行校准过程(8),尤其是在所述校准过程中测定或新测定过程限度(G)。

11.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,校准松弛参量和/或校准过程参数(P),所述校准松弛参量和/或校准过程参数确定制造过程和/或对于制造过程是重要的。

12.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,所述过程限度(G)是松弛限度。

13.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,在校准过程(8)期间测定各过程参数(P)的详细的过程限度(Gd)。

14.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,在校准过程(8)期间已经进行制造过程。

15.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,如果松弛参量位于过程限度(G)之外,则测定过程参数(P)是否位于其详细的过程限度(Gd)之外。

16.根据权利要求15所述的方法,其特征在于,自动地或手动地改变过程参数(P),使得过程参数(P)重新位于所述详细的过程限度(Gd)之内。

17.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,特别是在离线检验薄膜质量之后,能够改变过程限度(G),其中,特别是能够增大在过程限度(G)之间的区域。

18.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,经由显示单元(45)显示和/或能够改变松弛参量和/或过程限度(G)和/或详细的过程限度(Gd)和/或调试限度(E)和/或过程参数(P)。

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