[发明专利]光学颗粒传感器和感测方法

权利要求书

1.一种光学颗粒传感器，其特征在于，所述光学颗粒传感器包括：

光学传感器(16)，所述光学传感器(16)生成传感器信号，其中所述传感器信号或所述传感器信号的分析能通过施加阈限设置来控制，其中所述阈限设置决定由所述传感器信号捕获的颗粒尺寸检测范围；以及

控制器(24)，适于：

至少施加不同的第一阈限设置和第二阈限设置，并且接收对应的第一光学传感器读数和第二光学传感器读数；

处理所述第一光学传感器读数和所述第二光学传感器读数，以据此确定取决于污染事件的类型的参数，并且从而识别所述污染事件；以及

使用与所识别的所述污染事件有关的颗粒尺寸分布，根据所述第一光学传感器读数和所述第二光学传感器读数中的至少一个，来确定低于第一颗粒尺寸的所有颗粒的质量。

2.根据权利要求1所述的传感器，其中，所述光学传感器(16)仅对高于第二颗粒尺寸的颗粒敏感，所述第二颗粒尺寸低于所述第一颗粒尺寸。

3.根据权利要求1或2所述的传感器，其中，在由比较器数字化模拟信号之后，所述光学传感器(16)提供每单位时间的计数的测量。

4.根据权利要求3所述的传感器，其中，所述控制器(24)适于通过以下方式来处理所述第一光学传感器读数和所述第二光学传感器读数：

将针对所述第一阈限设置的每单位时间的颗粒计数与针对所述第二阈限设置的低脉冲占用率组合；或者

将针对所述第一阈限设置的每单位时间的颗粒计数与针对所述第二阈限设置的每单位时间的颗粒计数组合。

5.根据前述权利要求1、2和4中任一项所述的传感器，其中，所述第一阈限设置用于检测比所述第二阈限设置更宽范围的颗粒尺寸。

6.根据前述权利要求1、2和4中任一项所述的传感器，其中，所述控制器(24)适于基于所述参数修改所述第一光学传感器读数和所述第二光学传感器读数中的一个，以得出低于所述第一颗粒尺寸的所有颗粒的感测质量。

7.根据前述权利要求1、2和4中任一项所述的传感器，包括用于显示信息的显示器，所述信息传达低于所述第一颗粒尺寸的所有颗粒的质量，其中所述控制器适于生成第一质量信号和移动平均的第二质量信号，其中，所述第一质量信号是实时传感器信号、或者在比所述第二质量信号更短的持续时间上平均的移动平均信号，并且处理器适于提供用于显示的输出，所述输出包括所述第一质量信号和所述第二质量信号之一。

8.根据权利要求7所述的传感器，其中，所述控制器适于根据所述第一质量信号和所述第二质量信号之间的差异，来选择所述第一质量信号和所述第二质量信号之一。

9.根据权利要求1或2所述的传感器，其中在由比较器数字化模拟信号之后，所述光学传感器(16)提供低脉冲占用百分比的测量，其中为了提供低脉冲占用百分比的测量，所述光学传感器包括光源和光检测器，所述光检测器用于测量散射信号脉冲，并且所述控制器适于提供超过高度阈限的散射信号脉冲的计数，并且确定存在高于所述高度阈限的检测的时间的比例。

10.一种光学颗粒感测方法，其特征在于，所述方法包括：

操作(180)光学传感器以生成传感器信号；通过至少施加不同的第一阈限设置和第二阈限设置，来控制所述传感器或分析所生成的所述传感器信号，以获得第一光学传感器读数和第二光学传感器读数，其中，所述第一阈限设置和第二阈限设置决定由所述传感器信号捕获的颗粒尺寸检测范围；

处理(182)所述第一光学传感器读数和所述第二光学传感器读数，以据此确定取决于污染事件的类型的参数，并且从而识别所述污染事件的类型；以及

使用与所识别的所述污染事件有关的颗粒尺寸分布，根据所述第一光学传感器读数和所述第二光学传感器读数中的至少一个，来确定(184)低于第一颗粒尺寸的所有颗粒的质量。