[发明专利]投影装置、投影方法、投影模块、电子装置以及程序有效
申请号: | 201680034242.X | 申请日: | 2016-06-03 |
公开(公告)号: | CN107637071B | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 中村仁 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | H04N5/74 | 分类号: | H04N5/74;G02B26/10;G09G3/02;H04N9/31 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 投影 装置 方法 模块 电子 以及 程序 | ||
1.一种投影装置,包括:
激光束生成单元,根据输入图像的像素信号生成激光束;
一个扫描单元,反射由所述激光束生成单元生成的激光束,并且在执行扫描的同时将所述激光束投影到屏幕上;
检测单元,检测由所述激光束生成单元生成的所述激光束的光轴的位置;
校正系数计算单元,基于关于由所述检测单元检测到的所述光轴的位置的信息,计算用于校正所述激光束的偏移量的校正系数;以及
校正单元,基于所述校正系数校正所述输入图像中的像素信号,
测试发射控制单元,控制所述激光束生成单元,以控制用于测试发射的激光束的生成,用于计算所述校正系数,其中,
在由所述激光束生成单元生成用于测试发射的激光束时,所述校正系数计算单元在所述测试发射控制单元的控制下,基于由所述检测单元检测到的光轴的位置,计算用于校正激光束的偏移量的校正系数,
所述测试发射控制单元将包含在消隐区域中的多个局部区域中的任一者随机地设置为测试发射位置,并且
当由所述扫描单元在所述屏幕上扫描的位置是投影图像的消隐区域并且是被设置为所述测试发射位置的区域时,控制所述激光束生成单元,以生成用于测试发射的激光束,用于计算所述校正系数。
2.根据权利要求1所述的投影装置,其中,
所述检测单元
包括多个光量检测单元,每个光量检测单元检测对应区域中的激光束的光量,所述区域是与所述激光束的光轴垂直的二维平面,所述区域被分成多个区,并且
基于由所述多个光量检测单元中的每一者检测到的光量的比率,检测所述激光束的光轴的位置。
3.根据权利要求1所述的投影装置,其中,
所述校正系数计算单元
基于关于所述检测单元中的激光束的光轴的位置的信息,来获得投影在所述屏幕上的像素位置的偏移量,并且基于所述偏移量,计算作为校正值的校正系数,所述校正系数用于将要被投影的像素位置转换为由所述激光束生成单元生成的激光束实际投影所在的像素位置。
4.根据权利要求3所述的投影装置,其中,
所述校正单元利用作为所述校正值的所述校正系数校正所述输入图像中的像素位置,并将校正后的像素位置的像素信号提供给所述激光束生成单元,并且
所述激光束生成单元基于校正的像素位置的像素信号生成所述激光束。
5.根据权利要求3所述的投影装置,其中,
所述校正系数计算单元基于所述激光束的光轴的先前偏移量和所述光轴的当前偏移量之间的差值,更新所述校正系数。
6.根据权利要求5所述的投影装置,其中,
所述校正单元用更新后的校正系数校正所述输入图像中的像素信号的像素位置,并且将校正后的像素位置的像素信号提供给所述激光束生成单元,并且
所述激光束生成单元基于校正后的像素位置的像素信号,生成所述激光束。
7.根据权利要求1所述的投影装置,其中,
针对R、G和B中的每一者设置所述激光束生成单元、准直透镜和所述激光束生成单元,
所述检测单元检测R、G和B中的每一者的光轴的位置,
所述校正系数计算单元基于关于由所述检测单元检测到的R、G和B中的每一者的光轴的位置的信息,将任意光轴的位置设置为原点,获得与其他光轴的位置的差值,并且基于所述差值,计算用于校正针对所述其他光轴的、在投影到屏幕上时的像素位置的校正系数,并且
所述校正单元基于所述校正系数,转换与所述其他光轴对应的输入图像信号的像素信号的像素位置,以执行校正。
8.根据权利要求7所述的投影装置,其中,
所述校正系数计算单元基于关于由所述检测单元检测到的R、G和B中的每一者的光轴的位置的信息,将任意光轴的位置设置为原点,获得与其他光轴的位置的当前差值,并且基于与过去的差值的变化量,更新用于校正针对所述其他光轴的、在投影到所述屏幕上时的像素位置的校正系数。
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