[发明专利]具有测量装置的可生产的制造装置

权利要求书

1.一种用于复杂的三维部件的逐层增材制造的装置，所述装置具有用于在所述部件的制造期间连续地监测质量指标的测量机构，所述质量指标为保护性气体的温度和/或化学组成，其中，所述测量机构和具有材料粉末的床至少在一些区域中被填充有保护性气体的加工单元围绕，并且能够通过至少一个激光器使最上层的材料粉末在熔化区域中以局部受限的方式熔化，所述装置的特征在于，所述测量机构具有所述至少一个激光器和至少一个光学传感器，所述光学传感器用于通过拉曼光谱优先检测所述熔化区域的范围内的质量指标，所述装置具有用于所述至少一个激光器的导向系统，所述至少一个激光器通过所述至少一个激光器的所述导向系统在所述加工单元内自由地在空间定位，并且所述至少一个激光器的所述导向系统设置在所述加工单元内。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光学传感器能够通过导向系统追踪所述熔化区域。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，通过所述光学传感器能够检测所述激光器的工作区域。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，通过所述光学传感器能够检测至少一个预定和固定的区域。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的装置，其特征在于，在每种情况下，光学系统均与所述激光器和/或所述光学传感器相关联。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光学传感器集成在所述至少一个激光器的所述导向系统中，以便相对于所述部件在空间中定位所述激光器。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，由所述至少一个激光器发射的激光辐射能够通过半透镜偏转到所述床的所述最上层的所述材料粉末上，并且所述材料粉末散射的测量辐射在无偏转地通过所述半透镜之后能够被馈送到所述至少一个光学传感器。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，由所述至少一个激光器发射的激光辐射以无偏转的方式穿过半透镜，并且所述床的所述最上层的所述材料粉末散射的测量辐射在通过所述半透镜偏转之后能够被馈送到所述至少一个光学传感器。

9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，在每种情况下，所述至少一个光学传感器及与之相关联的光学系统均与所述至少一个激光器同轴设置。

10.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，电子评估单元与所述测量机构相关联。

11.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，能够通过所述至少一个光学传感器非接触式地检测所述熔化区域相对于所述部件的空间位置和/或所述熔化区域的范围内的温度。

12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述熔化区域的范围内的温度能够通过利用所述至少一个光学传感器检测红外辐射量或旋转拉曼辐射来检测。

13.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述保护性气体内的氧和/或其他气体能够通过利用至少一个传感器和测量激光器得到的红外线吸收或拉曼位移来检测。

14.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述保护性气体中的氧和/或其他气体能够通过所述至少一个光学传感器和所述至少一个激光器借助于染料和/或所述材料粉末上散射的测量辐射的强度来检测。

15.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，能够通过所述评估单元来确定质量指标。

16.根据权利要求15所述的装置，其特征在于，能够通过所述评估单元确定的所述质量指标是所述部件的氧化和所述熔化区域中的结晶度。