[发明专利]改进的客观式综合验光仪有效
申请号: | 201680036441.4 | 申请日: | 2016-05-05 |
公开(公告)号: | CN107920731B | 公开(公告)日: | 2020-09-01 |
发明(设计)人: | M·阿魏特沃尔;R·扬;H·赫尔曼;I·梅尔尼克;A·颂波林斯基 | 申请(专利权)人: | 威仁尼克斯有限公司 |
主分类号: | A61B3/028 | 分类号: | A61B3/028 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 蔡洪贵 |
地址: | 以色列*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 改进 客观 综合 验光 | ||
一种客观式综合验光仪,利用将其光照投射在受试者的角膜上的发光的角膜曲率物体,并对来自受试者的角膜的反射在成像摄像机中成像。这些图像的图像处理被用于改进受试者的眼睛的角膜的聚焦和对中。一旦获得眼睛相对于角膜曲率物体的正确地聚焦的位置,则也可以实现眼睛相对于镜片轮组件的精确的纵向位置。这导致相比眼睛不能相对于镜片轮精确地定位的现有技术系统生成更加精确的处方。另外,整个综合验光轮的镜片组合可以使用具有可调节的像差水平的人工眼来校准。每个镜片组合被调节成假定地校正所选择的像差水平,并且所测量的任何残余像差表示应施加至该镜片组合的校正。
技术领域
本发明涉及客观式综合验光测量领域,其使用迭代的主观式综合验光测量与客观式波前分析测量相结合的器械,尤其涉及综合验光仪的镜片轮的校准方法,以及用于增加测量期间受试者的眼睛在器械中的对中和聚焦的精度以及纵向位置的精度的校准方法。
背景技术
现有用于执行组合的综合验光和屈光测量以确定受试者的眼睛中呈现的像差的多种系统。一种这样的系统在国际专利公开文献WO/2013/150513、“客观式综合验光系统(Objective Phoropter System)”中描述,其具有与本申请共同的发明人以及与本申请共同的受让人。该系统使用一对综合验光轮组件,每只眼睛一个,每个组件包括多个镜片轮,该镜片轮包括用以补偿正在检查的眼睛视力的宽范围的屈光像差所需的一系列镜片和楔。每只眼睛的视力通过迭代地执行主观式综合验光测量与客观式波前分析测量的组合来确定初始的综合验光校正之后存在的残余像差而得以校正。波前分析测量可通过任何已知的方法来执行,尤其是通过使用夏克-哈特曼(Shack-Hartmann)阵列来分析视网膜反射的波前与平面波的偏差,这是本领域所公知的。
然而,这些现有技术的系统存在多个缺点。首先,这些系统的精度依赖于镜片轮中使用的镜片的标称数值,使得如果这些镜片中的任何一个具有不精确的数值,则所使用的镜片组合的假定光学度数将是不准确的,并且开出的用于制备校正眼镜镜片的处方将是不精确的。这种不精确性还会由于镜片轮的不良对准而增加。因此,视力校正的处方将无法针对受试者提供最佳的校正可能。
另外,受试者的眼睛可能没有被定位在与综合验光仪镜片轮相距正确距离的位置,并且由于该距离对于开具镜片处方是重要的,它将在眼镜框中提供最佳的校正,该眼镜框被设计成座置在与使用者的眼睛相距一标准距离的位置,由此任何偏差将导致低于最佳的视力校正。因此,还需要提供一种确保眼睛相对于综合验光仪镜片轮的正确焦点位置的更加精确的方法。上述考虑适用于测量期间受试者眼睛的侧向对中,并且在测量期间使用瞳孔图像来使眼睛对中的现有技术方法可能不是最佳的。
因此,存在着对克服现有技术的系统和方法的至少一些缺点的客观式综合验光仪的需求。
在本部分中以及本说明书的其他部分中提及的公开文献中的每一个的公开内容都通过引用的方式以其整体并入本文。
发明内容
本公开内容描述了用于执行客观式综合验光测量的新的示例性系统。在本公开内容中描述的客观式综合验光仪包括用于改进该器械的使用精度和便利性的多种新颖的方法和组件。第一种方法使用角膜曲率测量系统,以便使受试者的眼睛针对测量聚焦和对中。该系统使用将其光照投射在受试者的角膜上的发光的角膜曲率物体,并使用来自受试者的角膜的反射以及成像摄像机来对所反射的光进行成像,并在摄像机上进行图像处理以改进受试者的眼睛的聚焦和对中。一旦获得眼睛相对于角膜曲率物体的正确地聚焦的位置,则也可以实现眼睛相对于镜片轮组件的精确的纵向位置。这导致相比于眼睛不能相对于镜片轮精确地定位的现有技术系统生成更加精确的处方。
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