[发明专利]针对暗场和相衬CT的鲁棒重建有效
申请号: | 201680037546.1 | 申请日: | 2016-06-27 |
公开(公告)号: | CN107810524B | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | T·克勒;B·J·布伦德尔;P·诺埃尔;F·普法伊费尔;M·冯托伊芬巴赫 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 孟杰雄;王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 针对 暗场 ct 重建 | ||
1.一种信号处理系统(SPS),包括:
-输入端口(IN),其用于接收从由X射线探测器(D)采集的信号导出的干涉投影数据,所述信号是由X射线辐射在所述X射线辐射与干涉仪和要被成像的目标(OB)相互作用之后的引起的,所述干涉仪(IF)具有参考相位;
-重建器(RECON),其被配置为重建所述目标(OB)的一个或多个物理性质的空间分布的一幅或多幅图像,所述重建器被配置为通过调整多个拟合变量来将所述干涉投影数据拟合到信号模型,所述拟合变量包括i)针对所述一幅或多幅图像的一个或多个成像变量,以及ii)除了所述一个或多个成像变量之外的针对所述参考相位的波动的专用相位变量(ψ);以及
-输出端口(OUT),其用于输出所述一幅或多幅图像。
2.根据权利要求1所述的信号处理系统,其中,所述投影数据是己经从不同投影方向采集的。
3.根据权利要求2所述的信号处理系统,其中,所述参考相位波动通过所述相位变量(ψ)被建模为与所述不同投影方向无关的恒定偏移。
4.根据权利要求2所述的信号处理系统,其中,所述参考相位波动通过所述相位变量(ψ)被建模为依赖于所述不同投影方向的非恒定偏移。
5.根据权利要求1-4中的任一项所述的信号处理系统,其中,所述参考相位波动通过所述相位变量(ψ)被建模为依赖于所述X射线探测器的探测器元件的位置。
6.根据权利要求5所述的信号处理系统,其中,所述探测器元件是单个探测器像素或探测器像素的组。
7.根据权利要求1-4中的任一项所述的信号处理系统,其中,所述相位变量(ψ)包括时间依赖性以对所述波动随时间的变化进行建模。
8.一种成像装置(100),包括:
-根据前述权利要求1-7中的任一项所述的信号处理系统(SPS);以及
-X射线成像器(XI),其包括干涉仪(IF)和用于提供投影数据的X射线探测器(D)。
9.一种信号处理方法,包括以下步骤:
-接收(S210)从由探测器(D)采集的信号导出的干涉投影数据,所述信号是由辐射在所述辐射与干涉仪和要被成像的目标(OB)相互作用之后引起的,所述干涉仪(IF)具有参考相位;
-重建所述目标的一个或多个物理性质的空间分布的一幅或多幅图像(S220),所述重建器被配置为通过调整多个拟合变量来将所述干涉投影数据拟合到信号模型,所述拟合变量包括i)针对所述一幅或多幅图像的一个或多个成像变量,以及ii)除了所述一个或多个成像变量之外的针对所述参考相位的波动的专用相位变量(ψ);并且
-输出(S230)所述一幅或多幅图像。
10.根据前述权利要求1-4中的任一项所述的信号处理系统、根据权利要求8所述的成像装置或者根据权利要求9所述的方法,其中,所述物理性质包括以下中的任何一项或多项:i)衰减、ii)折射或电子密度分布,或者iii)小角度散射。
11.一种成像装置(100),包括:具有干涉仪(IF)的X射线成像器(IX)以及根据权利要求1-7中的任一项所述的系统。
12.一种信号处理设备,包括:
处理器;以及
存储器,其用于存储指令,所述指令当被所述处理器运行时适于执行根据权利要求9-10中的任一项所述的方法的步骤。
13.一种计算机可读介质,其具有被存储在其上的用于控制根据权利要求1-7中的任一项所述的系统的计算机程序单元,所述计算机程序单元当被处理单元(WS)运行时适于执行根据权利要求9-10中的任一项所述的方法的步骤。
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