[发明专利]电子元件收纳托盘、多个电子元件收纳体以及电子元件处理方法

说明书

提供一种能通过位置识别标志的位置检测各元件收纳凹部的位置，从而可靠地从各元件收纳凹部取出电子元件或向各元件收纳凹部收容电子元件的电子元件收纳托盘；在电子元件收纳托盘的多个元件收纳凹部收纳有电子元件的多个电子元件收容体；以及能基于与电子元件收纳托盘的关系可靠地处理电子元件的电子元件处理方法。在托盘主体(3)的规定位置配置多个元件收纳凹部(2)，在托盘主体(3)的、与元件收纳凹部(2)具有规定位置关系的至少两个部位配置位置识别标志(4)，位置识别标志包括能从上表面侧或下表面侧进行识别的平面区域(14)以及与平面区域邻接的倾斜区域(15)，从上表面侧或下表面侧观察时，由平面区域和倾斜区域的边界线(16)规定的边界线包围区域(17)的形状为圆形。

技术领域

本发明涉及一种用于收纳电子元件的托盘、在托盘收纳有多个电子元件的多个电子元件收纳体以及基于与托盘的关系的电子元件处理方法。

例如在对电子元件进行出货或将电子元件用于安装时，广泛采用的是使用具有多个元件收容凹部的托盘来将电子元件分别收纳于托盘的多个元件收纳凹部并对上述电子元件进行处理。

作为上述那样的电子元件的收纳托盘，在专利文献1中提出了一种半导体元件收纳用托盘，该半导体元件收纳用托盘的表面呈矩阵状地形成有用于收纳半导体元件的元件收纳凹部，在半导体元件收纳部的规定部位设置有表示半导体元件收纳用托盘的方向的基准标志。

此外，在将托盘设置于半导体元件外观检查装置等情况下，利用专利文献1的半导体元件收纳用托盘(以下，仅称“托盘”)能够容易地识别托盘的方向，能够可靠地防止错误地设置托盘的方向这样的设置错误的发生。

现有技术文献

专利文献

特許文献1:日本专利特开2001－287785号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

然而，在专利文献1所记载的半导体元件收纳用托盘中，虽然设置有表示托盘方向的基准标志能够防止错误地设置托盘的方向，但是上述专利文献1并未示出用于确定用于收纳元件的元件收纳凹部和托盘自身的位置关系的结构，因此，存在下述问题：例如，即使根据基准标志预先使托盘朝向规定方向也无法准确地检测元件收纳凹部的位置，在元件收纳凹部的平面尺寸较小并且收纳于上述元件收纳凹部的电子元件的尺寸也较小的情况下，当利用真空吸附等方法将电子元件拾取并取出时，容易产生取出错误。

此外，在现有的托盘中，作为其构成材料，通常采用透明、半透明或不透明的树脂材料，另外，为了抑制、防止静电，例如采用掺合有炭黑等导电性材料的树脂材料，但存在下述问题：在通过压模的方法在上述树脂材料上形成基准标志的情况下，以光学的方式识别基准标志较困难。

本发明是为了解决上述技术问题而形成的，其目的是：提供一种电子元件收纳托盘，该电子元件收纳托盘包括能够可靠识别的位置识别标志，并且能够根据位置识别标志的位置可靠地检测出多个元件收纳凹部的位置，从而能将电子元件可靠地从各元件收纳凹部取出或收容于各元件收纳凹部；提供一种多个电子元件收容体，在上述多个电子元件收容体中，在电子元件收纳托盘的多个元件收纳凹部收纳有电子元件；以及提供一种电子元件处理方法，该电子元件处理方法能够基于与电子元件收纳托盘的关系可靠地处理电子元件。

解决技术问题所采用的技术方案

为了解决上述技术问题，本发明的电子元件收纳托盘包括：托盘主体；多个元件收纳凹部，上述元件收纳凹部配置于上述托盘主体的规定位置，并且分别用于供电子元件收纳；以及位置识别标志，上述位置识别标志设置于上述托盘主体的、与上述元件收纳凹部具有规定位置关系的至少两个部位，并且，上述位置识别标志包括能够从上表面侧或下表面侧进行识别的平面区域以及与上述平面区域邻接的倾斜区域，在从上表面侧或下表面侧观察时，由上述平面区域和上述倾斜区域的边界线规定的边界线包围区域的形状是圆形。