[发明专利]具有分布式反馈的激光二极管及其生产方法有效

专利信息
申请号: 201680038974.6 申请日: 2016-03-09
公开(公告)号: CN107851966B 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: 约尔格·弗里克;格茨.埃伯特;保罗·柯如姆;乔纳森·德克 申请(专利权)人: 柏林合作研究学会
主分类号: H01S5/12 分类号: H01S5/12;H01S5/20
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 李娜
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 分布式 反馈 激光二极管 及其 生产 方法
【权利要求书】:

1.激光二极管(100),所述激光二极管(100)包括:

有源层(10);

波导区域(12),所述波导区域(12)至少部分围绕所述有源层(10);

后端面(14);

前端面(16),所述前端面(16)被设计用于使激光辐射输出耦合,其中,所述有源层(10)至少部分地沿着第一轴线(X)在所述后端面(14)与所述前端面(16)之间延伸;以及

栅格(18),所述栅格(18)可操作地连接到所述波导区域(12),其中,所述栅格(18)包括多个脊(22)和多个沟槽(24),其中,所述栅格(18)是阶数在10与100之间的范围内的表面栅格,

其中,

所述多个沟槽(24)被设计为使得沿着所述栅格(18)的所述多个沟槽(24)的耦合参数P的平均增量非零,其中,沟槽(24)的所述耦合参数P通过公式(1)来定义

其中,dres是所述沟槽(24)到所述有源层(10)的距离,w是所述沟槽(24)的宽度,并且Δn是所述沟槽(24)的折射率与围绕所述沟槽(24)的材料的折射率之间的折射率差。

2.根据权利要求1所述的激光二极管(100),其中,所述栅格(18)具有关于所述耦合参数P的大于或等于1.1的变迹度量AP,其中,所述变迹度量AP根据公式(2)

由所述栅格(18)的所述多个沟槽(24)的所述耦合参数P的最大值与最小值之间的比值产生。

3.根据权利要求1所述的激光二极管(100),其中,所述栅格(18)具有关于局部反射率R(x)大于或等于1.1的变迹度量AR,其中,所述变迹度量AR根据公式(3)

由所述栅格(18)的所述局部反射率R(x)的最大值与最小值之间的比值产生。

4.根据权利要求1所述的激光二极管(100),其中,所述栅格具有关于局部耦合因子长度积κL大于或等于1.1的变迹度量AκL,其中,所述变迹度量AκL根据公式(4)

由所述栅格(18)的所述局部耦合因子长度积κL(x)的最大值与最小值之间的比值产生。

5.根据权利要求1到4中的任一项所述的激光二极管(100),其中,各个沟槽(24)的所述耦合参数P与在所述波导区域(12)中引导的波(26)的功率密度适配,其中,与低功率密度的区域中的所述耦合参数P相比,所述耦合参数P在高功率密度的区域中减小。

6.根据权利要求1到4中的任一项所述的激光二极管(100),其中,所述耦合参数P沿着所述栅格(18)的函数关系是任意的、单调增加或单调减小、线性增加或线性减小、二次增加或二次减小或者指数增加或指数减小。

7.根据权利要求1到4中的任一项所述的激光二极管(100),其中,根据公式(5)

由各个沟槽(24)到所述有源层(10)的距离dres的最大值与最小值之比得出的变化Vdres大于或等于1.1。

8.根据权利要求1到4中的任一项所述的激光二极管(100),其中,根据公式(6)

由各个沟槽(24)的所述宽度w的最大值与最小值之比得出的变化Vw大于或等于1.1。

9.根据权利要求1到4中的任一项所述的激光二极管(100),其中,根据公式(7)

由单个沟槽(24)的相应折射率与围住所述沟槽(24)的所述材料的所述折射率之间的折射率差Δn的最大值与最小值之比得出的变化VΔn大于或等于1.1。

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