[发明专利]一种图像匹配的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201680039124.8 申请日: 2016-10-14
公开(公告)号: CN109348731B 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: 王少飞 申请(专利权)人: 深圳配天智能技术研究院有限公司
主分类号: G06V10/75 分类号: G06V10/75;G06K9/62
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 518000 广东省深圳市宝安区沙*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 图像 匹配 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种图像匹配的方法,其特征在于,包括:

获取模板图像;

确定所述模板图像中的前景图像,所述前景图像为模板图像中实际物体的像素点的集合;

当所述模板图像覆盖在目标图像上一个位置时,计算所述前景图像的灰度特征和子图像的灰度特征,所述子图像为当所述模板图像覆盖在所述目标图像上时,在所述目标图像上与所述前景图像对应的图像;所述计算所述前景图像的像素点灰度特征包括:

计算所述前景图像的像素点的灰度值的均值

按照如下方式计算所述前景图像的像素点的灰度值方差与s面积之积:

其中,(x,y)表示所述目标图像上的坐标值;

(μ,ν)表示所述模板图像上的一参考点对应于所述目标图像上时的坐标值;

s为所述前景图像的像素点的集合;

t(x-μ,y-ν)表示模板图像上的坐标(x-μ,y-ν)对应的像素点的灰度值,其中,(x-μ,y-ν)表示以目标图像上的参考点(μ,ν)为原点建立的坐标系中模板图像上的坐标;

所述计算子图像的像素点的灰度特征包括:

计算所述子图像中像素点的灰度值的均值

对所述模板图像进行掩膜处理,得到前景掩膜;

通过将所述前景掩膜与所述目标图像进行频域点乘,得到所述目标图像中所述子图像的像素点灰度值的总和

按如下方式计算区域方差与s面积之积:

其中,f(x,y)表示坐标(x,y)对应的像素点的灰度值,其中,所述坐标(x,y)是以目标图像上的原点建立的坐标系中的坐标;

(x-μ,y-ν)表示以目标图像上的参考点(μ,ν)为原点建立的坐标系中模板图像上的坐标;

s为所述前景图像的像素点的集合;

通过所述前景图像的灰度特征和所述子图像的灰度特征计算所述前景图像与子图像的归一化互相关;

当所述归一化互相关大于预置值时,确定所述前景图像与所述子图像匹配。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述模板图像进行掩膜处理,得到前景掩膜包括:

对所述模板图像进行掩膜处理,将所述前景图像的像素置为1,背景图像的像素置为0,得到前景掩膜,所述背景图像为所述模板图像上除所述前景图像之外的图像。

3.根据权利要求1至2任一项所述的方法,其特征在于,所述通过前景图像的灰度值和所述子图像的灰度值计算所述前景图像与所述子图像的归一化互相关包括:

按如下方式计算所述归一化互相关:

其中,γ(μ,ν)表示所述模板图像以目标图像上的一坐标(μ,ν)为参考点,所述前景图像与所述子图像的归一化互相关;

f(x,y)表示坐标(x,y)对应的像素点的灰度值,其中,所述坐标(x,y)是以目标图像上的原点建立的坐标系中的坐标;

t(x-μ,y-ν)表示模板图像上的坐标(x-μ,y-ν)对应的像素的灰度值,其中,(x-μ,y-ν)表示以目标图像上的参考点(μ,ν)为原点建立的坐标系中模板图像上的坐标;

表示所述前景图像的像素点灰度值的均值;

表示所述子图像中像素点的灰度值的均值。

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