[发明专利]用于处理表面的设备

权利要求书

1.一种用于处理表面(21)的设备(1)，所述设备(1)具有用于识别所述表面(21)的类型的探测装置(2)，所述探测装置(2)具有用于利用光照射所述表面(21)的光源和用于探测被所述表面(21)反射的光的传感器(7)，其特征在于，所述传感器(7)配有形成多个子容积(13、14、15、16)的三维的遮光座(12)，其中，每个子容积(13、14、15、16)分别配属于所述传感器(7)的不同的传感器局部面(8、9、10、11)，并且其中，相邻的传感器局部面(8、9、10、11)借助所述遮光座(12)在光学上彼此隔开，由此防止光从第一子容积(13)中投射至第二子容积(14)中。

2.按照权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述遮光座(12)的每个子容积(13、14、15、16)配有自有的光源(17、18、19、20)。

3.按照权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述遮光座(12)配有共同的光源，其中，每个子容积(13、14、15、16)配有光源的自有的光输出口元件。

4.按照前述权利要求之一所述的设备(1)，其特征在于，所述子容积(13、14、15、16)内部的光具有用于照射所述表面(21)的确定的照明参数，其中，至少两个子容积(13、14、15、16)内部的照明参数彼此不同。

5.按照权利要求4所述的设备(1)，其特征在于，所述照明参数是以下参数中的至少一个参数，即光的与角度相关的辐射强度、光在被照射表面(21)上的入射角、所述光源和所述传感器(7)之间的角度、光输出口区域和所述传感器(7)之间的角度、所述光源与被照射表面(21)的距离、光输出口区域与被照射表面(21)的距离、光的偏振状态、光的光束的光线的平行性或不平行性。

6.按照权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述传感器(7)配有评估装置，所述评估装置设置用于，对借助所述传感器局部面(8、9、10、11)接收到的光在确定的表面参数方面进行评估。

7.按照权利要求6所述的设备(1)，其特征在于，至少两个传感器局部面(8、9、10、11)的被评估的表面参数彼此不同。

8.按照权利要求6或7所述的设备(1)，其特征在于，所述评估装置被设置用于，使至少两个传感器局部面(8、9、10、11)的表面参数逻辑上相互关联，并且与已知表面(21)的参考数据相比较，以便确定所述表面(21)的类型。

9.按照权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述传感器(7)是摄像芯片。

10.按照权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述传感器(7)是CCD传感器或CMOS传感器。

11.按照权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述设备(1)设计为清洁机器人。

12.按照权利要求3所述的设备(1)，其特征在于，所述光输出口元件是光纤。

13.按照权利要求6所述的设备(1)，其特征在于，所述表面参数是所述表面(21)的光泽度、颜色和/或纹理。